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  • 基于可靠性理論風(fēng)冷冰箱 ALT實驗

    本文結(jié)合風(fēng)冷冰箱的任務(wù)剖面、環(huán)境剖面設(shè)計加速壽命（ALT）試驗的壽命應(yīng)力剖面，進行風(fēng)冷冰箱加速壽命（ALT）實驗設(shè)計，驗證產(chǎn)品的壽命可靠性參數(shù)，通過相關(guān)壽命可靠性參數(shù)確定產(chǎn)品的壽命可靠性達到設(shè)計指標(biāo)。

    2022/03/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 航天元器件質(zhì)量與可靠性如何控制的？

    航天產(chǎn)品的質(zhì)量和壽命取決于產(chǎn)品設(shè)計、研制生產(chǎn)和試驗全過程的可靠性,而電子元器件的可靠性又是整個設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。

    2017/04/19 更新 分類：生產(chǎn)品管 分享

  • 芯片可靠性測試與設(shè)計討論

    芯片的壽命試驗HTOL（high temperature operation life）測試，曾經(jīng)被認(rèn)為某個芯片通過了HTOL 測試之后，就能夠達到10年的壽命要求，其實不然。本文介紹了其主要原因。

    2021/05/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 芯片高溫壽命測試標(biāo)準(zhǔn)與方法

    HTOL (High-Temperature Operating Life) 即高溫壽命測試，通過溫度、電壓激活失效機制來評估芯片可靠性的測試方法。

    2025/05/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 集成電路壽命評估理論與方法詳解

    集成電路壽命評估是一門融合了材料科學(xué)、器件物理、電路設(shè)計、統(tǒng)計學(xué)和失效分析的綜合性學(xué)科。它不僅是保障電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，也是推動IC技術(shù)持續(xù)進步的重要支撐。

    2025/09/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 詳解電阻可靠性相關(guān)參數(shù)，如何降額？

    與電阻可靠性相關(guān)的特性有：溫度系數(shù)、額定功率、額定電壓、固有噪聲、 壽命預(yù)估。

    2019/10/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 高加速壽命HALT實驗詳解

    本文介紹了高加速壽命HALT實驗。

    2024/09/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電子產(chǎn)品常見可靠性試驗有哪些？

    一般來說為了評價分析電子產(chǎn)品可靠性而進行的試驗稱為可靠性試驗，是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況，選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后，設(shè)定環(huán)境應(yīng)力程度與施加的時間，主要目的是盡可能在短時間內(nèi)，正確評估產(chǎn)品可靠性。

    2018/03/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 【實驗培訓(xùn)】可靠性加速試驗技術(shù)培訓(xùn)課程

    可靠性試驗與加速試驗技術(shù)培訓(xùn)課程

    2023/09/08 更新 分類：培訓(xùn)會展 分享

  • 六類可靠性試驗的區(qū)別與聯(lián)系

    依據(jù)GJB450A《裝備可靠性工作通用要求》分類，可靠性試驗可以分為環(huán)境應(yīng)力篩選、可靠性研制試驗、可靠性增長試驗、可靠性鑒定試驗、可靠性驗收試驗、壽命試驗。

    2018/03/06 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享