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殘余應力作為材料在制造、加工及服役過程中產(chǎn)生的內(nèi)在應力，直接影響材料的強度、疲勞壽命與結(jié)構(gòu)的安全可靠性。因此，準確、高效地檢測與評估材料內(nèi)部應力狀態(tài)，已成為無損檢

2026/01/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文分析了電子設備熱循環(huán)失效機理，介紹焊點熱循環(huán)失效的Engelmaier-Wild壽命模型。應用Engelmaier-Wild壽命模型, 本文提出了一種電子設備熱循環(huán)加速可靠性試驗方案。通過某電路板熱循環(huán)加速可靠性試驗案例及其試驗數(shù)據(jù)，驗證了Engelmaier-Wild壽命模型應用在電子設備熱循環(huán)加速可靠性試驗的適用性。

2021/07/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

摩擦與潤滑及其相互關(guān)系的研究，對于摩擦副失效分析?潤滑劑潤滑效率評價?延長設備使用壽命?提升整機可靠性等都具有重要意義。潤滑劑的摩擦因數(shù)?抗磨損性?承載能力等是研

2019/03/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

老化試驗是一種關(guān)鍵的可靠性評估方法，它通過在實驗室中模擬或強化產(chǎn)品在實際使用環(huán)境中可能遇到的各種條件，來快速評估材料或產(chǎn)品的耐久性、穩(wěn)定性及預測其使用壽命。

2025/11/07 更新 分類：法規(guī)標準 分享

實驗室壽命試驗：通向市場可靠性的橋梁，而非終極保證書。

2025/09/28 更新 分類：實驗管理 分享

數(shù)字電子元件日益普及，應用深入到生活的方方面面，從移動電話和平板電腦、健康監(jiān)測儀和家庭數(shù)字助理，到互聯(lián)網(wǎng)和電信基礎設施、數(shù)據(jù)中心、運輸管理和線傳飛控系統(tǒng)，均有涉及。隨著我們在日常生活中越來越依賴這些產(chǎn)品，我們也越來越多地注意到產(chǎn)品中使用的電子元器件的可靠性帶來的問題。

2020/12/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

可靠性試驗是通過典型環(huán)境應力和工作載荷暴露產(chǎn)品的潛在缺陷，獲取產(chǎn)品可靠性水平、檢驗產(chǎn)品可靠性指標、評估產(chǎn)品壽命指標的一種有效手段。

2024/03/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享

產(chǎn)品壽命可靠性試驗MTBF計算規(guī)范

2018/12/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文經(jīng)過案例分析，得出結(jié)論：溫度對儲液壺使用壽命的影響小于壓力對儲液壺使用壽命的影響。

2021/11/16 更新 分類：檢測案例 分享

本文通過介紹IGBT模塊的結(jié)構(gòu)、失效模式等說明熱疲 勞是影響IGBT使用壽命的主要因素。

2023/05/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享