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芯片的壽命試驗HTOL(high temperature operation life)測試,曾經(jīng)被認為某個芯片通過了HTOL 測試之后,就能夠達到10年的壽命要求,其實不然。本文介紹了其主要原因。
2021/05/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將系統(tǒng)性地闡述確定加速應力上限的理論依據(jù)、方法論步驟,并輔以具體的實例進行深入解析。
2025/11/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
HALT的最大特點是時間上的壓縮,即在短短的幾天內(nèi)模擬一個產(chǎn)品的整個壽命期間可能遇到的情況。
2018/03/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
老化試驗是指產(chǎn)品通過專用的設(shè)備對其產(chǎn)品的所有性能進行快速的檢驗,得知產(chǎn)品的使用壽命。
2018/10/09 更新 分類:實驗管理 分享
本文主要分享相對簡單的有源設(shè)備的加速壽命試驗。
2024/11/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文從結(jié)構(gòu)連接部位工況特點,自然環(huán)境試驗方法、試驗驗證等方面進行研究分析,以期為飛機結(jié)構(gòu)件的設(shè)計開發(fā)、壽命預測提供一定參考。
2024/12/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將分享HALT/HASS試驗方法,了解其如何快速暴露產(chǎn)品缺陷,為企業(yè)提升產(chǎn)品可靠性提供理論依據(jù)和實踐指導。
2025/09/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
搖臂接頭是飛機上的關(guān)鍵受力部件,有著受力嚴酷、工作環(huán)境惡劣、故障率高的特點,需對搖臂接頭進行一系列嚴格的測試和試驗,其中,疲勞試驗是驗證其安全使用壽命的一項重要試驗。
2017/07/17 更新 分類:檢測案例 分享
可靠性試驗與加速試驗技術(shù)培訓課程
2023/09/08 更新 分類:培訓會展 分享
HALT是高加速壽命試驗,主要應用于產(chǎn)品開發(fā)階段,它能以較短的時間促使產(chǎn)品的設(shè)計和工藝缺陷暴露出來,從而為我們做設(shè)計改進,提升產(chǎn)品可靠性提供依據(jù)。
2018/11/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享