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熟悉安規(guī)的小伙伴都知道，軟線應力消除（Strain relief test）是常見的安規(guī)測試之一，在IEC60950-1, 60065和62368等標準中均有要求。
2019/09/19 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文針對 5083 鋁合金焊接殘余應力檢測問題，研究盲孔法應變釋放系數標定與修正，提升高應力區(qū)測試精度，為相關材料檢測提供參考。
2025/12/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享
高加速壽命測試（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT測試）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應力來揭示設計缺陷和不足的過程。
2023/02/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本研究通過對比不同樣條的測試結果，優(yōu)選出應變率最精確的試樣類型，從而提升測試精度，最終得到準確的應力-應變曲線。
2022/01/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
對于個位數級別微應變測量，正確的選擇是采用箔式電阻應變片。盡管半導體應變片有很好的穩(wěn)定性，但其在一定條件下容易產生很多誤差，如溫度變化以及光線變化。
2020/12/12 更新 分類：法規(guī)標準 分享
老化（Burn in）是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時間內對元器件連續(xù)施加環(huán)境應力，而環(huán)境應力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應力，還包括其他很多應力，例如溫度循環(huán)、隨機振動等，通過電-熱應力的綜合作用來加速元器件內部的各種物理、化學反應過程，促使隱藏于元器件內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到剔除早期失效產品的目的。
2021/11/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享
高加速試驗一般分為高加速壽命試驗和高加速應力應力篩選試驗，高加速壽命試驗（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT試驗）是一種利用快速高、低溫變換的震蕩體系來揭示電子和機械裝配件設計缺陷和不足的過程。
2023/02/27 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文主要介紹了：動載下材料力學相應測試需求，霍普金森桿測試原理，霍普金森桿的應用，動態(tài)荷載下應力-應變關系。
2021/06/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了應力分析結果：不同強度理論的主應力表達式及應力線性化。
2022/04/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了定伸應力與影響定伸應力的因素。
2024/09/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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