您當(dāng)前的位置:檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁
以武田公司案例,說明高海拔通過影響溶劑沸點(diǎn)等致藥品放大生產(chǎn)雜質(zhì)超標(biāo),給出加壓反應(yīng)、控溫等解決辦法及經(jīng)驗(yàn)。
2025/09/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文拆解破壞性試驗(yàn)的核心目的、典型方法及實(shí)施策略,闡明其對(duì)工藝安全評(píng)估與中試放大的重要意義。
2026/01/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
合理的電容器選型可以避免許多質(zhì)量問題和電路信號(hào)問題的出現(xiàn).有時(shí)候,正確的選型甚至比合理的電路設(shè)計(jì)更重要. 選型因此成為復(fù)雜電路系統(tǒng)制造工程的一環(huán)必須得到電容器生產(chǎn)廠家和電路設(shè)計(jì)者的共同重視,這一步驟對(duì)雙方都非常必要.
2021/06/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
每個(gè)電路都有一定的噪聲,這些噪聲會(huì)影響模擬和數(shù)字電路的性能。有些噪聲來自外部干擾,有些噪聲則由熱效應(yīng)等隨機(jī)因素引起。
2018/05/09 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
電阻損壞的特點(diǎn),電解電容損壞的特點(diǎn),二極管、三極管等半導(dǎo)體器件損壞的特點(diǎn),集成電路損壞的特點(diǎn)
2018/11/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享
對(duì)于高性能的無線通信系統(tǒng),電源對(duì)射頻的影響可能是“隱性”的,但卻不可忽視。這里收集整理了業(yè)界廣泛關(guān)注的幾條設(shè)計(jì)射頻電路電源的要點(diǎn)與經(jīng)驗(yàn),分享給大家。
2019/01/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
比較普遍的一個(gè)現(xiàn)象是:研發(fā)人員無一例外的同聲譴責(zé)采購和工藝部門,對(duì)元器件控制不嚴(yán),致使電路板入檢合格率低、到客戶現(xiàn)場(chǎng)后頻頻出毛病
2019/12/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
集成電路(IC)測(cè)試是IC產(chǎn)業(yè)鏈中重要的一環(huán),而且是不可或缺的一環(huán),它貫穿于從產(chǎn)品設(shè)計(jì)開始到完成加工的全過程。
2020/02/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
PCB(PrintedCircuitBoard),中文名稱為印制電路板,又稱印刷電路板、印刷線路板,是重要的電子部件,是電子元器件的支撐體,是電子元器件電氣連接的提供者。由于它是采用電子印刷術(shù)制作的,故被稱為“印刷”電路板。
2020/09/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC 61967和IEC 62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì),整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試項(xiàng)目。
2020/12/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享