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本文通過一個具體的案例，帶您深入了解芯片失效分析的實戰(zhàn)應(yīng)用。
2025/08/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享
分析塑件表面光澤不良的三類原因：模具故障、成型條件不當(dāng)、原料不合要求，并給出對應(yīng)解決辦法。
2025/11/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享
MTBF即平均無故障時間，英文是“Mean Time Between Failure”，具體是指產(chǎn)品從一次故障到下一次故障的平均時間，是衡量一個產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)（僅用于發(fā)生故障經(jīng)修理或更換零件能繼續(xù)工作的設(shè)備或系統(tǒng)），單位為“小時”。
2015/11/09 更新 分類：實驗管理 分享
【研發(fā)質(zhì)量培訓(xùn)】FTA故障樹分析培訓(xùn)
2020/01/09 更新 分類：培訓(xùn)會展 分享
MTBF，即平均故障間隔時間，英文全稱是“Mean Time Between Failure”，就是從新的產(chǎn)品在規(guī)定的工作環(huán)境條件下開始工作到出現(xiàn)第一個故障的時間的平均值。
2020/06/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享
軸承在運轉(zhuǎn)過程中，會由于疲勞的原因慢慢的劣化。滾動軸承的劣化發(fā)展不是一個線性過程，而是一個指數(shù)過程。在不同的劣化階段，故障信息出現(xiàn)在不同的頻帶范圍內(nèi)，所以要采用不同的故障檢測方法。目前工業(yè)領(lǐng)域普遍認(rèn)為滾動軸承的劣化歷程可以分為四個階段。
2020/08/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹一下色譜柱故障診斷相關(guān)知識。
2021/03/26 更新 分類：實驗管理 分享
本文采用故障樹分析法（FTA）結(jié)合高溫試驗系統(tǒng)故障事件構(gòu)建了總分式故障樹模型，獲得了影響試驗系統(tǒng)安全運行的主要因素及關(guān)鍵設(shè)備，通過確定最小割集對試驗系統(tǒng)可靠性進行了定性分析，并給出了試驗系統(tǒng)安全的定量分析方法，對實驗室高溫試驗系統(tǒng)的維護和可靠運行具有指導(dǎo)意義。
2021/10/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要匯總了EMC試驗中的故障診斷處理與整改經(jīng)驗：輻射發(fā)射超標(biāo)，傳導(dǎo)發(fā)射超標(biāo)，抗靜電干擾不合格，抗射頻輻射電磁場干擾不合格，抗脈沖群干擾不合格，抗浪涌干擾試驗不合格及由射頻場感應(yīng)所引起的傳導(dǎo)干擾抗擾度試驗不合格。
2021/11/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文對GC7890 II型氣相色譜儀使用過程中出現(xiàn)的色譜柱(VB-5，美國VICI公司)不出峰的異?，F(xiàn)象進行分析，著重介紹了造成故障的原因和排除故障的方法。
2022/11/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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