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作為材料科學(xué)最強(qiáng)大的研究工具之一，掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形態(tài)和結(jié)構(gòu)，它的應(yīng)用范圍非常廣泛。

2025/07/27 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡(jiǎn)單，不需要包埋和切片

2017/06/14 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

電子掃描顯微鏡在材料檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用

2018/12/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。

2019/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器，主要用于：原材料的篩選（顆粒尺寸范圍，顆粒尺寸統(tǒng)計(jì)，快速篩樣）和組裝過程分析

2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

位錯(cuò)對(duì)材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置，對(duì)雙層石墨烯中的位錯(cuò)成像，并同時(shí)在納米尺度原位操縱位錯(cuò)，可以直接揭示線張力、位錯(cuò)相互作用、節(jié)點(diǎn)形成等位錯(cuò)的基本特性。

2021/02/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

在實(shí)際高分辨電子顯微鏡像的觀察中，除物鏡的襯度傳遞函數(shù)外，入射電子的能量變化、色差以及試樣上入射電子的會(huì)聚角等都會(huì)引起分辨率下降。

2021/04/09 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

本文通過掃描電子顯微鏡 ( SEM) 和透射電子顯微鏡(TEM) 相結(jié)合的方法探討了應(yīng)力發(fā)白產(chǎn)生的原因，并通過加入不同種類的增韌劑、相容劑，以及提高色粉的含量以改善應(yīng)力發(fā)白的情況。

2023/04/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

采用掃描電子顯微鏡（SEM）與X射線能譜儀（EDS）聯(lián)合應(yīng)用的方法對(duì)材料進(jìn)行微區(qū)化學(xué)成分分析是一種重要的分析手段。

2024/11/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了聚焦離子束掃描電子顯微鏡FIB-SEM的工作原理。

2023/10/25 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享