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本文介紹了元器件損壞后的問題排查路徑。
2024/04/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文以SURGE測試中通訊端口防護器件損壞為例,進行損壞機理分析、不同測試方法帶來的影響分析、不同應(yīng)用場景的測試方法選擇,以及SURGE防護設(shè)計中的注意點等內(nèi)容進行分析說明。
2021/10/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
陶瓷電容器耐壓失效3種典型模式,陶瓷電容器失效的七大原因
2020/03/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了陶瓷電容器的介質(zhì)老化與去老化方法。
2022/04/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了一種波峰焊工藝陶瓷電容的失效案例,與常見IR降低不同,此失效電容內(nèi)部未發(fā)現(xiàn)任何裂紋和缺陷。
2022/05/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
去耦電容的作用分為兩種:降低PDN和降低ESL。有效使用去耦電容的方法從兩個方向考量:
2022/12/30 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電容在EMC設(shè)計中非常重要,也是我們常用的濾波元件!這里我把電容濾波的兩個要點介紹一下。
2023/03/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
某電容隨機振動試驗過程中,引腳焊接根部發(fā)生斷裂失效,通過宏觀檢測和SEM等方法,分析并確定電容器引腳斷裂失效原因。
2024/08/26 更新 分類:檢測案例 分享
鋁電解電容的失效模式和失效機理主要體現(xiàn)在電容內(nèi)部材料的老化、化學反應(yīng)以及環(huán)境影響等方面。下面是一些常見的失效模式及其背后的失效機理。
2024/09/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要簡要介紹無源晶振匹配電容的計算公式。
2025/07/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享