您當(dāng)前的位置:檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁
有極性電容和無極性電容原理上相同,都是存儲(chǔ)電荷和釋放電荷;極板上的電壓(這里把電荷積累的電動(dòng)勢(shì)叫電壓)不能突變。
2023/07/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電磁兼容X 電容與 Y 電容的核心差異及應(yīng)用指南。
2026/01/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
超級(jí)電容器性能測(cè)試及其檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
2017/12/06 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
鋁箔中金屬雜質(zhì)的存在,會(huì)使鋁電解電容器漏電流增大,從而縮短電容器的壽命,在使用上過壓等有可能使電容的漏電流增加。
2021/08/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了多層瓷介質(zhì)電容器的電容量老化特性。
2024/03/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
寄生電容一般是指電感繞線間、芯片引腳之間、功率半導(dǎo)體引腳之間在高頻情況下表現(xiàn)出來的電容特性。
2024/03/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了P型半導(dǎo)體的MOS電容器典型的電容-電壓特性。
2025/02/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將從結(jié)構(gòu)原理、工藝特性、優(yōu)缺點(diǎn)及應(yīng)用領(lǐng)域等方面,深入比較這三種電容的差異。
2025/11/09 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文通過功率MOSFET管的工作特性,結(jié)合失效分析圖片中不同的損壞形態(tài),系統(tǒng)的分析過電流損壞和過電壓損壞,同時(shí),根據(jù)損壞位置不同,分析功率MOSFET管的失效是發(fā)生在開通的過程中,還是發(fā)生在關(guān)斷的過程中,從而為設(shè)計(jì)工程師提供一些依據(jù),來找到系統(tǒng)設(shè)計(jì)的一些問題,提高電子系統(tǒng)的可靠性。
2021/11/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
超級(jí)電容器,作為電化學(xué)儲(chǔ)能器件的潛力股不斷被提及。
2017/02/09 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享