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本文介紹了做MTBF可靠性試驗(yàn)需要提供哪些資料,采用哪些可靠性方案,可靠性試驗(yàn)的應(yīng)力選擇,樣品臺(tái)數(shù)的選擇,可靠性壽命試驗(yàn)MTBF的指標(biāo)是什么,可靠性試驗(yàn)MTBF壽命試驗(yàn)一般需要多久的測試周期及相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)。
2021/07/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
溫度沖擊試驗(yàn)與溫度循環(huán)試驗(yàn)的差異主要是應(yīng)力負(fù)荷機(jī)理不同。溫度沖擊試驗(yàn)主要考察由于蠕變及疲勞損傷引起的失效,而溫度循環(huán)主要考察由于剪切疲勞引起的失效。
2023/12/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
環(huán)境應(yīng)力篩選(Environment Stress Screen,ESS)是通過向電子或機(jī)電產(chǎn)品施加在設(shè)計(jì)范圍之內(nèi)的合理的環(huán)境應(yīng)力(如溫循、隨機(jī)振動(dòng)等)或電應(yīng)力,將其內(nèi)部的潛在缺陷加速暴露出來的過程
2018/08/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
近日,國家藥監(jiān)局綜合司發(fā)布了醫(yī)療器械拓展性臨床試驗(yàn)管理規(guī)定(征求意見稿),全文如下:
2019/08/29 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
HALT/HASS試驗(yàn)技術(shù)能高度壓縮試驗(yàn)時(shí)間,使產(chǎn)品的潛在缺陷在設(shè)計(jì)和制造階段得以暴露,為能根治設(shè)計(jì)和制造薄弱環(huán)節(jié)提供確切的改進(jìn)信息
2019/06/19 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
在應(yīng)變速率0.001/s至1000/s區(qū)間內(nèi),要獲得不同數(shù)量級(jí)下的應(yīng)力-應(yīng)變曲線,需要不同的測試設(shè)備,即準(zhǔn)靜態(tài)萬能材料試驗(yàn)機(jī)和高速拉伸試驗(yàn)機(jī)。
2024/06/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
一般來說為了評(píng)價(jià)分析電子產(chǎn)品可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn)稱為可靠性試驗(yàn),是為預(yù)測從產(chǎn)品出廠到其使用壽命結(jié)束期間的質(zhì)量情況,選定與市場環(huán)境相似度較高的環(huán)境應(yīng)力后,設(shè)定環(huán)境應(yīng)力
2022/05/30 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
環(huán)境試驗(yàn)與可靠性試驗(yàn)雖然關(guān)系緊密,但它們在試驗(yàn)?zāi)康?,所用環(huán)境應(yīng)力數(shù)量,環(huán)境力量值選用準(zhǔn)則,試驗(yàn)類型,試驗(yàn)時(shí)間存在截然的不同之處。
2017/07/22 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
依據(jù)產(chǎn)品的特性及振動(dòng)規(guī)模,投入ESS測試有效的篩選出潛在的不良件,對于電子或機(jī)構(gòu)類與加工時(shí)殘留之熱應(yīng)力及內(nèi)應(yīng)力可有效消除其內(nèi)殘留應(yīng)力之效果,可有效的消除多層電路板間的離散電容效應(yīng),將對產(chǎn)品品質(zhì)提供相當(dāng)大的幫助
2018/09/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
抗電強(qiáng)度絕緣耐壓試驗(yàn)對于考核設(shè)備的絕緣能力以及結(jié)構(gòu)在電壓應(yīng)力下的耐擊穿能力是必須檢測的項(xiàng)目之一。
2018/10/25 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享