您當(dāng)前的位置:檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁(yè)
同軸度是評(píng)價(jià)圓柱形工件的一項(xiàng)重要技術(shù)指標(biāo),同軸度誤差直接影響著工件的裝配和使用
2018/09/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
奈奎斯特定理已被眾所周知了,所以幾乎所有人的都知道為了不讓頻譜混疊,理論上采樣頻譜大于等于信號(hào)的最高頻率。
2018/06/12 更新 分類(lèi):生產(chǎn)品管 分享
用于測(cè)量檢測(cè)聚合物層厚度的德國(guó)DIN標(biāo)準(zhǔn)修正接觸測(cè)量法和光學(xué)測(cè)量法中的系統(tǒng)誤差
2018/08/01 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
以下內(nèi)容簡(jiǎn)述了溫度測(cè)量中常見(jiàn)的系統(tǒng)誤差與不確定度的來(lái)源,每一種來(lái)源可能有多個(gè)不確定度分量。
2018/08/15 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文就旁路電容、電源、地線設(shè)計(jì)、電壓誤差和由PCB布線引起的電磁干擾(EMI)等幾個(gè)方面,討論模擬和數(shù)字布線的基本相似之處及差別。
2019/02/27 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
對(duì)于個(gè)位數(shù)級(jí)別微應(yīng)變測(cè)量,正確的選擇是采用箔式電阻應(yīng)變片。盡管半導(dǎo)體應(yīng)變片有很好的穩(wěn)定性,但其在一定條件下容易產(chǎn)生很多誤差,如溫度變化以及光線變化。
2020/12/12 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文主要介紹了Pierre Gy采樣理論,誤差來(lái)源分析,如何讓你的樣品更具代表性:規(guī)范取樣原則及減小樣品量。
2021/11/29 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了微電子器件封裝失效機(jī)理與對(duì)策:封裝材料α射線引起的軟誤差,水汽引起的分層效應(yīng),金屬化腐蝕及鍵合引線失效。
2022/01/24 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了溫度變化對(duì)材料的影響,溫度引起檢測(cè)誤差,如何維持熱穩(wěn)定,正確認(rèn)識(shí)加工精度與分析及機(jī)床預(yù)熱。
2022/02/28 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
ICH提供了“質(zhì)量平衡”的定義:在充分考慮了分析方法誤差的情況下,將含量和降解產(chǎn)物測(cè)定值相加,以考察其是否接近初始值的100%。
2022/06/14 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享