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本文闡釋 Buck 電路的降壓工作原理，詳解控制器芯片、MOS 管等核心器件的選型標(biāo)準(zhǔn)與參數(shù)計(jì)算，助力電子電氣設(shè)備電源設(shè)計(jì)。
2026/01/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情，比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間，有時(shí)甚至炸機(jī)。
2017/11/01 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
隨著集成技術(shù)和微電子封裝技術(shù)的發(fā)展，電子元器件的總功率密度不斷增長，而電子元器件和電子設(shè)備的物理尺寸卻逐漸趨向于小型、微型化，特別是5G技術(shù)的落定。所產(chǎn)生的熱量迅速積累，導(dǎo)致集成器件周圍的熱流密度也在增加，所以，高溫環(huán)境必將會(huì)影響到電子元器件和設(shè)備的性能，這就需要更加高效的熱控制方案。因此，電子元器件、電子設(shè)備的散熱問題已演變成為當(dāng)前電
2021/01/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享
老化（Burn in）是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時(shí)間內(nèi)對元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng)等，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程，促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。
2021/11/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享
瞬態(tài)器件是一種新興的電子器件，其主要特征是在完成任務(wù)后可以通過化學(xué)或物理過程完全或部分溶解或分解構(gòu)成材料，被認(rèn)為是植入式器件的新研究方向。然而，瞬態(tài)器件的研究仍處于起步階段，需要克服的挑戰(zhàn)很多，尤其是瞬態(tài)能量器件的發(fā)展相對緩慢。
2022/02/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享
美國斯坦福大學(xué)華人教授鮑哲南領(lǐng)導(dǎo)的團(tuán)隊(duì)在最新一期美國《國家科學(xué)院學(xué)報(bào)》上報(bào)告說，他們發(fā)明了一種柔性有機(jī)電子器件，用醋這樣的弱酸性物質(zhì)就可以無毒降解。這種電子器件未
2017/05/08 更新 分類：熱點(diǎn)事件 分享
升額設(shè)計(jì)都是從明確所需要升額的參數(shù)開始?？梢允菍ふ铱梢猿惺芩鬁囟确秶念愃破骷⑿薷幕蛘呖刂破骷褂铆h(huán)境、與供應(yīng)商溝通獲得在更寬范圍使用的承諾等。只有這樣才可以保證器件可以成功升額使用。
2018/06/06 更新 分類：行業(yè)研究 分享
正確有效地選擇和使用電子元器件是提高電子產(chǎn)品可靠性水平的一項(xiàng)重要工作。
2018/11/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享
元器件的儲(chǔ)存可靠性以及儲(chǔ)存期的長短主要與下列因素有關(guān)
2019/11/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享
氣密封裝元器件可靠性要比非氣密封裝高一個(gè)數(shù)量級以上，氣密封裝元器件一般按軍標(biāo)、宇航標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格控制設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、測試、檢驗(yàn)等多個(gè)環(huán)節(jié)，失效率低，多用于高可靠應(yīng)用領(lǐng)域。
2020/03/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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