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對元器件造成損傷的主要是三種模式，即帶點(diǎn)人體的靜電放電模式、帶電機(jī)器的放電模式和充電器件的放電模式。

2023/05/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享

靜電放電（ESD）是一種可嚴(yán)重影響電子醫(yī)療器械的問題，會導(dǎo)致微電子元件故障和損壞。

2023/07/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

降額設(shè)計(jì)的定義：設(shè)計(jì)時(shí)元器件或設(shè)備工作時(shí)承受的工作應(yīng)力適當(dāng)?shù)陀谠骷蛘咴O(shè)備規(guī)定的額定值，從而達(dá)到降低基本失效率，提高使用可靠性的目的。

2023/10/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了為什么去耦電容要靠近用電器件的電源管腳。

2023/12/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享

高速的印制線或器件與參考接地板之間的容性耦合，會產(chǎn)生EMI問題，敏感印制線或器件布置在PCB邊緣會產(chǎn)生抗擾度問題。

2024/05/23 更新 分類：檢測案例 分享

本文介紹了半導(dǎo)體器件FEoL階段的局部電荷捕獲非易失性存儲器數(shù)據(jù)保持模型研究。

2024/10/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文對因溫度循環(huán)和熱沖擊導(dǎo)致的疲勞失效模型進(jìn)行研究

2024/11/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文對因溫度循環(huán)和熱沖擊導(dǎo)致的界面失效模型進(jìn)行研究

2024/11/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文對因高溫導(dǎo)致的金屬間化合物和氧化失效模型進(jìn)行研究

2024/11/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹防浪涌電路中的元器件之TSS以及一些常用的電路。

2024/12/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享