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水質(zhì)中總鉛的檢測

檢測項：總鉛 檢測樣品：水質(zhì) 標(biāo)準(zhǔn)：水質(zhì) 65種元素的測定電感耦合等離子體質(zhì)譜法HJ 700-2014

檢測機(jī)構(gòu)：上海國齊檢測技術(shù)有限公司 更多相關(guān)信息>>

路面標(biāo)線涂料中密度的檢測

檢測項：密度 檢測樣品：路面標(biāo)線涂料 標(biāo)準(zhǔn)：JT/T 280-2004路面標(biāo)線涂料

檢測機(jī)構(gòu)：化學(xué)工業(yè)合成材料老化質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心 更多相關(guān)信息>>

旅游鞋中感官質(zhì)量的檢測

檢測項：感官質(zhì)量 檢測樣品：旅游鞋 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 15107-2013

檢測機(jī)構(gòu)：深圳市英柏檢測技術(shù)有限公司 更多相關(guān)信息>>

煤質(zhì)中全硫的檢測

檢測項：全硫 檢測樣品：煤質(zhì) 標(biāo)準(zhǔn)：煤中全硫的測定方法 GB/T 214-2007

檢測機(jī)構(gòu)：中國航天科技集團(tuán)公司檢測中心 更多相關(guān)信息>>

成都電氣檢驗所/成都三方電氣有限公司

檢測項：部分電磁兼容項目 檢測樣品：電子計速表 標(biāo)準(zhǔn)：電子計速表 電磁兼容性 EN 50148:1995

檢測項：電磁兼容項目 檢測樣品：電子計速表 標(biāo)準(zhǔn)：無線通信設(shè)備-射頻要求 EN 300 220-2 V2.3.1 EN 300 330-2 V1.5.1 EN 300 440-2 V1.4.1 EN 300 328 V1.7.1

檢測項：電磁兼容項目 檢測樣品：電子計速表 標(biāo)準(zhǔn)：無線通信設(shè)備-電磁兼容性 EN 301 489-1 V1.8.1 EN 301 489-3 V1.4.1 EN 301 489-7 V1.3.1 EN 301 489-17 V2.1.1 EN 301 489-19 V1.2.1

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

西安東風(fēng)儀表廠可靠性試驗檢測中心

檢測項：溫度循環(huán) 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項：老煉試驗 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測項：粒子碰撞噪聲檢測試驗 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計量測試技術(shù)研究所

檢測項：輸出高電平電源電流ICCH 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

檢測項：輸出低電平電源電流ICCL 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

檢測項：輸出高電平電壓VOH 檢測樣品：CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路CMOS 電路測試方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計量測試研究所

檢測項：電源電流ICC 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項：輸出高電平電源電流ICCH 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項：輸出低電平電源電流ICCL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

湖南航天管理局計量檢測中心

檢測項：電源電流ICC 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項：輸出低電平電源電流ICCL 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項：輸入高電平電壓VIH 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：湖南省長沙市 更多相關(guān)信息>>

宜昌測試技術(shù)研究所（中國船舶重工集團(tuán)公司第七一0研究所）環(huán)境可靠性及電磁兼容檢測實驗室

檢測項：輸出低電平時電源電流 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項：輸出高電平電壓 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

檢測項：輸出低電平電壓 檢測樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省宜昌市 更多相關(guān)信息>>