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西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市更多相關(guān)信息>>

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北京青云航空儀表有限公司理化計(jì)量中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸入低電平電壓VIL 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入正向閾值電壓VIT+ 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓VOH 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路 (CMOS) 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理SJ/T10741-2000

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西南計(jì)算機(jī)有限責(zé)任公司檢測(cè)計(jì)量與軟件測(cè)評(píng)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入電流檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：電壓調(diào)整率SV 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（數(shù)字集成電路）標(biāo)準(zhǔn)：1.SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半導(dǎo)體器件集成電路第

檢測(cè)項(xiàng)：電流調(diào)整率SI 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（數(shù)字集成電路）標(biāo)準(zhǔn)：1.SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半導(dǎo)體器件集成電路第

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)電流ID 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路（數(shù)字集成電路）標(biāo)準(zhǔn)：1.SJ/T 10741-2000 半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半導(dǎo)體器件集成電路第

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中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第七二二研究所計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸入低電平電流IIL 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：正向閾值電壓下的輸入電流IT+ 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：負(fù)向閾值電壓下的輸入電流IT- 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

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中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第四十七研究所電子器件質(zhì)量檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電壓VOL 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入高電平電流IIH 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入低電平電流IIL 檢測(cè)樣品：CMOS 電路測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第723研究所電工電子設(shè)備環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸出低電平電流檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路》GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出短路電流檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路》GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》SJ/T10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸出高電平電壓檢測(cè)樣品：CMOS集成電路標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件集成電路第2部分：數(shù)字集成電路》GB/T17574-1998 《半導(dǎo)體集成電路 CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》SJ/T10741-2000

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中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：內(nèi)部觀測(cè)特征檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：輸入高電平電壓VIH 檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：輸入低電平電壓VIL 檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10741-2000 《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》

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國(guó)營(yíng)長(zhǎng)風(fēng)機(jī)器廠環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)計(jì)量中心

檢測(cè)項(xiàng)：輸入失調(diào)電流檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：輸入偏置電流檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/10741-2000

檢測(cè)項(xiàng)：開環(huán)電壓增益檢測(cè)樣品：數(shù)字集成電路標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/10741-2000

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北京尊冠科技有限公司

檢測(cè)項(xiàng)：電流調(diào)整率SI 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路第 2 部分數(shù)字集成電路》

檢測(cè)項(xiàng)：紋波抑制比Srip 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路第 2 部分數(shù)字集成電路》

檢測(cè)項(xiàng)：邏輯功能檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路、CMOS電路標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 17574－1998《半導(dǎo)體集成電路第 2 部分數(shù)字集成電路》

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西南技術(shù)物理研究所檢測(cè)校準(zhǔn)中心實(shí)驗(yàn)室

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中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

國(guó)營(yíng)長(zhǎng)風(fēng)機(jī)器廠環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)計(jì)量中心

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