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上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司檢測中心

檢測項：柵源漏電流 檢測樣品：電子元器件 標準：半導體器件測試方法 MIL-STD-750F:2012 方法3411.1

檢測項：N溝道MOSFET的閥值電壓 檢測樣品：電子元器件 標準：半導體器件測試方法 MIL-STD-750F:2012 方法3404

檢測項：P溝道MOSFET的閥值電壓 檢測樣品：電子元器件 標準：半導體器件測試方法 MIL-STD-750F:2012 方法3404

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

奇宏電子（深圳）有限公司實驗室

檢測項：聲壓 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品中的聚合物/其它元器件 標準：聲學 信息技術(shù)設(shè)備和通信設(shè)備空氣噪聲的測量 GB/T 18313-2001

檢測項：聲功率 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品中的聚合物/其它元器件 標準：聲學 信息技術(shù)設(shè)備和電信設(shè)備發(fā)出的空氣噪聲的測量 第三版ISO 7779:2010

檢測項：聲功率 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品中的聚合物/其它元器件 標準：聲學 聲壓法測定噪聲源聲功率級 消聲室和半消聲室精密法GB/T 6882-2008

機構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

上海儲融檢測技術(shù)有限公司

檢測項：電池組的元器件溫 度測試 檢測樣品：家用和商 用電池 標準：家用和商用電池的 安全 UL 2054:2011 第2版

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

北京光華無線電廠檢測試驗中心

檢測項：外部目檢 檢測樣品：塑封半導體集成電路 標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006

檢測項：X射線檢查 檢測樣品：密封半導體集成電路 標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006

檢測項：外部目檢 檢測樣品：密封半導體集成電路 標準：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 GJB4027-2006

機構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

西安西谷微電子有限責任公司元器件檢測中心

檢測項： 檢測樣品： 標準：

機構(gòu)所在地：陜西省西安市 更多相關(guān)信息>>

機械工業(yè)儀器儀表元器件質(zhì)量檢驗所

檢測項：全部參數(shù) 檢測樣品：壓力容器波形膨脹節(jié) 標準：GB 16749-1997壓力容器波形膨脹節(jié)

檢測項：全部參數(shù) 檢測樣品：不銹鋼波形膨脹節(jié) 標準：GB/T 12522-2009不銹鋼波形膨脹節(jié)

檢測項：全部參數(shù) 檢測樣品：聚四氟乙烯波紋補償器 標準：GB/T15700-2008聚四氟乙烯波紋補償器通用技術(shù)條件

機構(gòu)所在地：遼寧省沈陽市 更多相關(guān)信息>>

西南計算機有限責任公司檢測計量與軟件測評中心

檢測項：輸出電流 檢測樣品：電子元器件 標準：電子及電氣元件試驗方法 GJB360B-2009 方法301

檢測項：輸出紋波電壓 檢測樣品：電子元器件 標準：電子及電氣元件試驗方法 GJB360B-2009 方法301

檢測項：電壓調(diào)整率 檢測樣品：電子元器件 標準：電子及電氣元件試驗方法 GJB360B-2009 方法301

機構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團公司第四十研究所質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心

檢測項：靜負荷 檢測樣品：插座 標準：GJB1218-1991插入式電子元器件用插座及其附件總規(guī)范4.7.12

檢測項：射頻分流電阻 檢測樣品：插座 標準：GB/T15176-1994插入式電子元器件用插座及其附件總規(guī)范5.4.5

檢測項：插座固定 檢測樣品：插座 標準：GJB2445-1995電子元器件引線端插座總規(guī)范4.7.4

機構(gòu)所在地：安徽省蚌埠市 更多相關(guān)信息>>

四川特訊機電檢測有限公司

檢測項：結(jié)構(gòu)要求 檢測樣品： 標準：

機構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

上海無線電設(shè)備研究所環(huán)境與檢測實驗室

檢測項：Q值 檢測樣品：元器件 篩選 標準：《半導體分立器件試驗方法》 GJB 128A-1997

檢測項：直流電阻 檢測樣品：元器件 篩選 標準：《半導體分立器件試驗方法》 GJB 128A-1997

檢測項：溫度貯存 檢測樣品：元器件 篩選 標準：《半導體分立器件試驗方法》 GJB 128A-1997

機構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>