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上海無線電設(shè)備研究所環(huán)境與檢測實(shí)驗室

檢測項：外部目檢 檢測樣品：電子、 電工產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：《電子及電氣元件試驗方法》 GJB 360B-2009

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

亞旭電子科技（江蘇）有限公司零件工程實(shí)驗室

檢測項：外部目檢 檢測樣品：塑封微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項目1103 GJB 4027A-2006

檢測項：外部目檢 檢測樣品：塑封微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項目1103 GJB 4027A-2006

檢測項：內(nèi)部目檢 檢測樣品：電子元器件/電工電子產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：軍用電子元器件破壞性物理分析方法 工作項目1103 GJB 4027A-2006

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

廣東省電子電器產(chǎn)品監(jiān)督檢驗所

檢測項：外部目檢 檢測樣品：發(fā)光二極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006

檢測項：外部目檢 檢測樣品：整流二極管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006

檢測項：外部目檢 檢測樣品：雙極型晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規(guī)范 GB/T 4589.1-2006

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第十四研究所檢測/試驗中心

檢測項：外部目檢 檢測樣品：閘流晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/Z9014.3-1987半導(dǎo)體器件 分立器件和集成電路 第６部分：閘流晶體管

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省南京市 更多相關(guān)信息>>

北京圣濤平試驗工程技術(shù)研究院有限責(zé)任公司中心實(shí)驗室

檢測項：外部目檢 檢測樣品：軍用及民用標(biāo)準(zhǔn)件 標(biāo)準(zhǔn)：《600℃高溫高壓管路快卸卡箍等卡箍系列標(biāo)準(zhǔn)》 GJB3821-1990

檢測項：外部目檢 檢測樣品：電子及電氣元器件篩選 標(biāo)準(zhǔn)：1、《電子及電氣元件試驗方法》GJB360B-2009 2、《元器件篩選技術(shù)條件》Q/QJB 103.1A~103.15A-2010 3、《有質(zhì)量等級的薄膜固定電阻器總規(guī)范》GJB244A-2001 4、《片式膜固定電阻器通用規(guī)范》GJB1432B-20

檢測項：目檢 檢測樣品：印制板 標(biāo)準(zhǔn)：《汽車GPS導(dǎo)航系統(tǒng)通用規(guī)范》GB/T19392-2013

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

立德國際公證香港有限公司

檢測項：特定元素遷移:三價鉻及六價鉻 檢測樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：玩具安全 第三部分：某些元素的遷移 EN71-3:2013

檢測項：易燃性要求 檢測樣品：玩具 標(biāo)準(zhǔn)：加拿大消費(fèi)類產(chǎn)品安全法令 - 玩具條例, SOR/2011-17 32 外部覆蓋物的易燃性, 33 紗線的易燃性, 34 毛發(fā)或鬃毛的易燃性

機(jī)構(gòu)所在地： 更多相關(guān)信息>>

北京賽迪君信電子產(chǎn)品檢測實(shí)驗室有限公司

檢測項：外部目檢/外觀和機(jī)械檢驗 檢測樣品：電子元器件（物理試驗） 標(biāo)準(zhǔn)：1.GJB548B-2005微電子器件試驗方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半導(dǎo)體分立器件試驗方法，方法2068，方法2071

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國電子科技集團(tuán)公司第十三研究所檢測中心

檢測項：外部目檢 檢測樣品：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波組件通用規(guī)范 5、SJ 20527

檢測項：外部目檢 檢測樣品：電子元器件及設(shè)備 物理性能試驗 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 2、GJB 548A-1996 微電子器件試驗方法和程序 3、GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序 4

檢測項：外部目檢 檢測樣品：軍用電子元器件破壞性物理分析 標(biāo)準(zhǔn)：1、GJB 4027A-2006 軍用電子元器件破壞性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各種質(zhì)量等級軍用半導(dǎo)體器件破壞性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半導(dǎo)體分立器件試驗方法 4、GJB 360A-1996 電子及

機(jī)構(gòu)所在地：河北省石家莊市 更多相關(guān)信息>>

嘉瑞科技（惠州）有限公司中央實(shí)驗室

檢測項：幾何型狀及尺寸 檢測樣品：電子電氣產(chǎn)品及五金配件產(chǎn)品 標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS）形狀和位置公差 檢測規(guī)定GB/T1958-2004

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

南通吉馬紡織品檢整物流中心有限公司

檢測項：縫目強(qiáng)度 檢測樣品： 標(biāo)準(zhǔn)：《纖維制品的縫目強(qiáng)度試驗方法》 JIS L 1093：2005

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省南通市 更多相關(guān)信息>>