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廣州市番禺質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督檢測(cè)所

檢測(cè)項(xiàng)：鉛 檢測(cè)樣品：化妝品 標(biāo)準(zhǔn)：化妝品衛(wèi)生規(guī)范（2007年版）中第三部分 鉛

檢測(cè)項(xiàng)：鎘 檢測(cè)樣品：肉制品 標(biāo)準(zhǔn)：化妝品衛(wèi)生規(guī)范（2007年版）中第三部分 鎘

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省廣州市 更多相關(guān)信息>>

國(guó)營(yíng)長(zhǎng)風(fēng)機(jī)器廠環(huán)境試驗(yàn)檢測(cè)計(jì)量中心

檢測(cè)項(xiàng)：微分電阻 檢測(cè)樣品：分立器件 篩選 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法GJB128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益 檢測(cè)樣品：數(shù)字集成 電路 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理 SJ/10741-2000

機(jī)構(gòu)所在地：甘肅省蘭州市 更多相關(guān)信息>>

廣東省肇慶市質(zhì)量計(jì)量監(jiān)督檢測(cè)所

檢測(cè)項(xiàng)：鉛 檢測(cè)樣品：化妝品 標(biāo)準(zhǔn)：《化妝品衛(wèi)生化學(xué)標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方法 鉛》GB/T 7917.3—1987、化妝品衛(wèi)生規(guī)范（2007版）

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省肇慶市 更多相關(guān)信息>>

湖南航天管理局計(jì)量檢測(cè)中心

檢測(cè)項(xiàng)：微分電阻rZ 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)：微分電阻rZ 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15651-1995 半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益AVD 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路TTL電路 標(biāo)準(zhǔn)：SJ/T10735-1996 半導(dǎo)體集成電路TTL電路測(cè)試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：湖南省長(zhǎng)沙市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第七一五研究所校準(zhǔn)/檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：前置予處理機(jī)增益；多路前置予處理器增益一致性 檢測(cè)樣品：聲納設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：聲納通用規(guī)范 GJB22A-1999

檢測(cè)項(xiàng)：時(shí)變?cè)鲆妫═VG）控制范圍 檢測(cè)樣品：聲納設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：聲納通用規(guī)范 GJB22A-1999

檢測(cè)項(xiàng)：自動(dòng)增益控制（AGC）范圍 檢測(cè)樣品：聲納設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)：聲納通用規(guī)范 GJB22A-1999

機(jī)構(gòu)所在地：浙江省杭州市 更多相關(guān)信息>>

電信科學(xué)技術(shù)第一研究所泰峰通信實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：增益（包括移頻增益） 檢測(cè)樣品：直放站 標(biāo)準(zhǔn)：900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信直放機(jī)技術(shù)要求和測(cè)試方法 YD/T 1337-2005

檢測(cè)項(xiàng)：帶外增益 檢測(cè)樣品：直放站 標(biāo)準(zhǔn)：800MHz/2GHz CDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 模擬直放站技術(shù)要求和測(cè)試方法 YD/T 1596-2011

檢測(cè)項(xiàng)：增益 檢測(cè)樣品：直放站 標(biāo)準(zhǔn)：800MHz/2GHz CDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 模擬直放站技術(shù)要求和測(cè)試方法 YD/T 1596-2011

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>

亞旭電子科技（江蘇）有限公司零件工程實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 檢測(cè)樣品：集成電路/微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

檢測(cè)項(xiàng)：掃描電子顯微技術(shù)和電子束顯微分析 檢測(cè)樣品：電阻器/電容器 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

檢測(cè)項(xiàng)：內(nèi)部檢查 檢測(cè)樣品：集成電路/微電子器件 標(biāo)準(zhǔn)：微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003 微電路的失效分析程序 GJB 548B-2005

機(jī)構(gòu)所在地：江蘇省蘇州市 更多相關(guān)信息>>

湖南省食品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)研究院

檢測(cè)項(xiàng)：錫 檢測(cè)樣品：飲用水類(lèi) 標(biāo)準(zhǔn)：生活飲用水標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)方法金屬指標(biāo)GB/T5750.6-2006 17

機(jī)構(gòu)所在地：湖南省長(zhǎng)沙市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：微分電阻rZ 檢測(cè)樣品：光電耦合器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路第5部分：光電子器件》GB/T 15651-1995 《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》GJB 128A-1997

檢測(cè)項(xiàng)：差模開(kāi)環(huán)電壓增益AVD 檢測(cè)樣品：A/D 、D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成非線(xiàn)性電路數(shù)字/模擬轉(zhuǎn)換器和模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法》 SJ/T 10818-1996

檢測(cè)項(xiàng)：開(kāi)環(huán)電壓增益AVD 檢測(cè)樣品：模擬開(kāi)關(guān) 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理》GB/T 14028-1992

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽(yáng)市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所質(zhì)檢中心

檢測(cè)項(xiàng)：DAC微分線(xiàn)性誤差 檢測(cè)樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理　 SJ20961-2006

檢測(cè)項(xiàng)：DAC微分線(xiàn)性誤差溫度系數(shù) 檢測(cè)樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理　 SJ20961-2006

檢測(cè)項(xiàng)：ADC微分線(xiàn)性誤差 檢測(cè)樣品：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：集成電路A/D和D/A轉(zhuǎn)換器測(cè)試方法的基本原理　 SJ20961-2006

機(jī)構(gòu)所在地：重慶市 更多相關(guān)信息>>