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深圳市特種設(shè)備安全檢驗(yàn)研究院

檢測(cè)項(xiàng)：灰渣（飛灰、漏煤）可燃物含量 檢測(cè)樣品：工業(yè)鍋爐節(jié)能檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15317-2009《燃煤工業(yè)鍋爐節(jié)能監(jiān)測(cè)》

檢測(cè)項(xiàng)：灰渣（飛灰、漏煤）可燃物含量 檢測(cè)樣品：工業(yè)鍋爐節(jié)能檢測(cè) 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15317-2009《燃煤工業(yè)鍋爐節(jié)能監(jiān)測(cè)》

檢測(cè)項(xiàng)：化學(xué)耗氧量 檢測(cè)樣品：電站鍋爐水、蒸汽 標(biāo)準(zhǔn)：1.GB/T14420-1993《鍋爐用水和冷卻水分析方法 化學(xué)耗氧量的測(cè)定 重鉻酸鉀快速法》2.DL/T502.22-2006《火力發(fā)電廠水汽分析方法》第22部分：化學(xué)耗氧量的測(cè)定（高錳酸鉀法）3.DL/T502.23-2006《火力發(fā)電廠水汽分析方法》

機(jī)構(gòu)所在地：廣東省深圳市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)航空綜合技術(shù)研究所航空綜合環(huán)境航空科技重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：截止態(tài)漏級(jí)漏電流 ID（off） 檢測(cè)樣品：模擬集成電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 14030-1992 《半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理》

檢測(cè)項(xiàng)：零柵壓時(shí)的漏極電流IDDS 檢測(cè)樣品：場(chǎng)效應(yīng)管 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T4586-1994 《半導(dǎo)體器件分立器件 第8部分:場(chǎng)效應(yīng)晶體管》

檢測(cè)項(xiàng)：漏--源短路時(shí)的柵極截止電流IGSS 檢測(cè)樣品：晶體二極管 標(biāo)準(zhǔn)：GB4589.1-1989《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路總規(guī)范》

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)艦船研究設(shè)計(jì)中心檢測(cè)校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：微波漏能 檢測(cè)樣品：艦船總體 標(biāo)準(zhǔn)：①HJB237-2001《艦船電磁兼容性試驗(yàn)方法》 ②HJB34A-2007《艦船電磁兼容性要求》

檢測(cè)項(xiàng)：微波漏能 檢測(cè)樣品：艦船總體 標(biāo)準(zhǔn)：《艦船電磁兼容性試驗(yàn)方法》 HJB237-2001 《艦船電磁兼容規(guī)范》 HJB34A-2007 《艦船系統(tǒng)界面要求電磁環(huán)境直流磁場(chǎng)環(huán)境》 GJB1446.41-1992

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十研究所天奧校準(zhǔn)/檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：漏－源擊穿電壓 檢測(cè)樣品：晶閘管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407

檢測(cè)項(xiàng)：漏極電流 檢測(cè)樣品：場(chǎng)效應(yīng) 晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻 檢測(cè)樣品：場(chǎng)效應(yīng) 晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法3407

機(jī)構(gòu)所在地：四川省成都市 更多相關(guān)信息>>

貴州航天計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所

檢測(cè)項(xiàng)：截止態(tài)漏極漏電流ID 檢測(cè)樣品：V/F、F/V轉(zhuǎn)換器 標(biāo)準(zhǔn)：《半導(dǎo)體集成電路電壓/頻率和頻率/電壓轉(zhuǎn)換器》 GB/T 14114-1993

檢測(cè)項(xiàng)：漏源極截止電流IDSS 檢測(cè)樣品：晶體振蕩器 標(biāo)準(zhǔn)：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻rDS 檢測(cè)樣品：晶體振蕩器 標(biāo)準(zhǔn)：《晶體振蕩器總規(guī)范》GJB 1648-1993

機(jī)構(gòu)所在地：貴州省貴陽市 更多相關(guān)信息>>

北京振興計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：柵源短路時(shí)的漏極電流 檢測(cè)樣品：晶體管 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體分立器件和集成電路 第7部分：雙極型晶體管 GB/T4587-1994

檢測(cè)項(xiàng)：截止態(tài)漏極漏電流ID(off) 檢測(cè)樣品：脈寬調(diào)制器 標(biāo)準(zhǔn)：半導(dǎo)體集成電路開關(guān)電源脈寬調(diào)制器測(cè)試方法 QJ2660-1994

檢測(cè)項(xiàng)：電感量 檢測(cè)樣品：電感器 標(biāo)準(zhǔn)：線繞預(yù)調(diào)電位器總規(guī)范 GJB917－1990

機(jī)構(gòu)所在地：北京市 更多相關(guān)信息>>

湖北出入境檢驗(yàn)檢疫局檢驗(yàn)檢疫技術(shù)中心（湖北中檢檢測(cè)有限公司）

檢測(cè)項(xiàng)：耐漏液性能 檢測(cè)樣品：鋰原電池 標(biāo)準(zhǔn)：原電池 第4部分：鋰電池的安全要求 GB 8897.4-2008

檢測(cè)項(xiàng)：耐漏液性能 檢測(cè)樣品：手表電池 標(biāo)準(zhǔn)：原電池 第1部分IEC 60086-1:2007 總則原電池 第2部分：外形尺寸和技術(shù)要素 IEC 60086-2:2007

檢測(cè)項(xiàng)：耐漏液性能 檢測(cè)樣品：手表電池 標(biāo)準(zhǔn)：原電池 第3部分：手表電池 GB/T 8897.3-2006 IEC 60086-3:2004

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

洛陽軸承研究所檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室

檢測(cè)項(xiàng)：殘磁 檢測(cè)樣品：滾動(dòng)軸承 標(biāo)準(zhǔn)：JB/T8571-2008滾動(dòng)軸承 密封深溝球軸承防塵、漏脂、溫升性能試驗(yàn)規(guī)程

檢測(cè)項(xiàng)：表面粗糙度 檢測(cè)樣品：精密機(jī)械零部件 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 7220-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范（GPS） 表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 表面粗糙度 術(shù)語 參數(shù)測(cè)量

檢測(cè)項(xiàng)：形狀和位置公差 檢測(cè)樣品：精密機(jī)械零部件 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 1958-2004產(chǎn)品幾何量技術(shù)規(guī)范 形狀和位置公差檢測(cè)規(guī)定

機(jī)構(gòu)所在地：河南省洛陽市 更多相關(guān)信息>>

湖北省計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院

檢測(cè)項(xiàng)：漏射線 檢測(cè)樣品：攜帶式工業(yè)X射線探傷機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)：攜帶式工業(yè)X射線探傷機(jī) JB/T 7413-1994

檢測(cè)項(xiàng)：漏辨率 檢測(cè)樣品：人民幣偽鈔鑒別儀 標(biāo)準(zhǔn)：人民幣偽鈔鑒別儀 GB 16999-2010

檢測(cè)項(xiàng)：漏射線 檢測(cè)樣品：固定式（移動(dòng)式）工業(yè)X射線探傷機(jī) 標(biāo)準(zhǔn)：固定式（移動(dòng)式）工業(yè)X射線探傷機(jī) JB/T 7412-1994

機(jī)構(gòu)所在地：湖北省武漢市 更多相關(guān)信息>>

上海精密計(jì)量測(cè)試研究所

檢測(cè)項(xiàng)：靜態(tài)漏-源通態(tài)電阻RDS(on) 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：漏-源擊穿電壓V(BR)DSS 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理

檢測(cè)項(xiàng)：漏極截止電流IDSS 檢測(cè)樣品：半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路 標(biāo)準(zhǔn)：GB/T14030-1992 半導(dǎo)體集成電路時(shí)基電路測(cè)試方法的基本原理

機(jī)構(gòu)所在地：上海市 更多相關(guān)信息>>