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提到硬件開發(fā)，華為無疑是制造業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，分享一些華為開發(fā)的文章，供研發(fā)人士參考。

 

一、

1、 文檔，評審，設(shè)計。

2、 華為的硬件領(lǐng)域的人員構(gòu)成：

3、 華為的流程

詳見：華為是怎樣開發(fā)硬件的？（連載之一）

二、揭秘華為硬件研發(fā)——歸一化管理

三、揭秘華為研發(fā)——華為是怎樣做電路設(shè)計的

四、揭秘華為研發(fā)——如何做好器件選型？

五、揭秘華為研發(fā)——白板講解

六、揭秘華為研發(fā)——高效開會（附實例）

 

1、從進(jìn)度的角度對比華為和小米的測試

上圖是小米UI的一周進(jìn)度圖。按照小米UI每周發(fā)布的進(jìn)度，周四一天的內(nèi)測。我按照華為的流程怎么套都套不出來。

疑惑點在于：

1、內(nèi)測是指開發(fā)人員自測試，還是測試人員的測試？

2、如果是指開發(fā)人員自測試，那么測試人員在哪里測試？

3、如果是測試人員測試，那么開發(fā)人員的自測試呢？開發(fā)轉(zhuǎn)測試的點在哪里？

華為背景的朋友一定會問：測試人員怎么可能用一天的時間完成測試？

也許有人說，小米的效率就是高。那么我們來看一下華為的測試流程，你就知道是否可以壓縮到一天完成相關(guān)的測試。

 

首先說明一點，華為的軟件部門，包括UI、或者網(wǎng)站的開發(fā)團(tuán)隊也是按照小步迭代進(jìn)行開發(fā)的，在產(chǎn)品穩(wěn)定后，新增需求會拆分成細(xì)小的版本，進(jìn)行最短周期的開發(fā)測試。也可能華為的拆解需求的能力弱于小米，但是這里我們單純談測試流程。

 

測試是產(chǎn)品開發(fā)過程中必不少的環(huán)節(jié),在華為的研發(fā)人員中,有近三分之一的人員是測試人員,華為的測試體系在國內(nèi)算是起步較早,大概經(jīng)歷了這樣幾個階段:

1) 青銅器時代: 手工作坊式測試

1996年研發(fā)測試團(tuán)隊成立

手工作坊方式的研發(fā)過程和測試

2) 鐵器時代：IPD和CMM階段

1998年華為與IBM合作，開始引進(jìn)IPD流程

1999年左右引入CMM理念

產(chǎn)生IPD-CMMI流程

3) 火器時代：PTM階段

2004年在IPD基礎(chǔ)上開發(fā)PTM流程，自動化測試規(guī)模開展

2006~2007年左右PTM趨于完善

注：上圖中各個TR點的含義如下：

SRS：需求分析文檔；
HLD：概要設(shè)計文檔；
LLD：詳細(xì)設(shè)計文檔；

 

1. UT

　　單元測試的對象是LLD中所劃分定義的程序單元或模塊，它也是單元測試用例設(shè)計中可測試的最大單元。該測試對象可能由一個或多個函數(shù)或者類組成，測試設(shè)計就是對測試對象進(jìn)行測試用例設(shè)計。

UT的目的，是通過函數(shù)運(yùn)行來檢查模塊代碼對于LLD文檔的順從性，驗證每個函數(shù)的輸入輸出響應(yīng)，與它在詳細(xì)設(shè)計文檔中預(yù)先定義的是否一致。函數(shù)是產(chǎn)品開發(fā)實現(xiàn)的最基本單位，下一個實現(xiàn)單位是模塊，從測試的角度看，希望UT完成后，每個函數(shù)都牢固可靠，下一步的IT測試將聚焦在函數(shù)之間配合能否實現(xiàn)分配需求，而不用擔(dān)心函數(shù)本身的輸入輸出響應(yīng)問題。

　　單元測試比較適合開發(fā)人員做。

 

2.IT

　　集成測試是指把若干個經(jīng)過單元測試的單元組裝到一起而進(jìn)行的測試，集成測試應(yīng)依據(jù)HLD，主要發(fā)現(xiàn)接口、依賴中的錯誤或不完善的地方。集成測試的對象為若干個單元測試對象的組合，至少為兩個。

IT的目的，是根據(jù)模塊設(shè)計對模塊的分解，從已驗證的函數(shù)開始，逐層向上集成，得到一個可運(yùn)行的模塊。

IT可以由開發(fā)人員做，也可以由測試人員做。

　　不難看出，UT是面向每一個單元的測試，IT是測試單元之間的接口，可以把UT/IT歸為“單元級”測試。

 

3.ST

CMM定義的系統(tǒng)測試：系統(tǒng)測試是針對軟件項目組所承擔(dān)開發(fā)的軟件系統(tǒng)進(jìn)行的整體測試，將軟件系統(tǒng)作為整體運(yùn)行或?qū)嵤┟鞔_定義的軟件行為子集的測試。主要采用的測試方法是黑盒測試，即不管程序內(nèi)部的實現(xiàn)邏輯，以檢驗輸入輸出信息是否符合規(guī)格說明書中有關(guān)需求規(guī)定的測試方法。可見ST的測試對象是規(guī)格說明書，更確切的說，是模塊需求規(guī)格說明書，所以一般也稱為MST。模塊SRS文檔給出了模塊的輸入輸出的相應(yīng)要求。MST后，每個模塊是牢固可用的。

 

4.BBIT

BBIT為模塊間接口測試，驗證模塊之間的接口能不能配合，有時和聯(lián)調(diào)混在一起，其實目的并不相同。BBIT的目的，是根據(jù)系統(tǒng)設(shè)計對系統(tǒng)的分解，從已通過驗證的模塊開始，逐層向上集成，得到一個可運(yùn)行的系統(tǒng)。而聯(lián)調(diào)一般涉及軟件、硬件或者不同產(chǎn)品間的配合測試。MST和BBIT可以歸到“模塊級” 的測試，一個驗證模塊，一個驗證模塊間的接口。

　　以上UT/IT/MST/BBIT一般由開發(fā)人員完成，系統(tǒng)基本可以運(yùn)行起來了，測試人員可以開展SDV、SIT、SVT了。

 

5.SDV

SDV雖然屬于測試人員開展的系統(tǒng)測試，但是有點偏灰盒測試，因為SDV驗證各子系統(tǒng)的配合是否滿足設(shè)計需求（DR），對內(nèi)部的實現(xiàn)還是關(guān)注的，驗證多個模塊集成以后是否滿足設(shè)計需求。

 

6.SIT

SIT也是驗證設(shè)計需求是否得以滿足，與SDV不同的是，SIT完全把系統(tǒng)當(dāng)作一個黑盒來測試，不關(guān)心內(nèi)部具體的實現(xiàn)。實際應(yīng)用中，SDV和SIT 雖然都屬于系統(tǒng)一級的測試，往往由不同項目組（子系統(tǒng)）的測試人員分別測試，他們只關(guān)注各自的子系統(tǒng)，所以還是把SDV和SIT歸為“子系統(tǒng)級”的測試比較好。

 

7.SVT

SVT是驗收測試，其測試對象是產(chǎn)品包需求OR。產(chǎn)品包需求給出了產(chǎn)品的范圍，從產(chǎn)品可能的應(yīng)用環(huán)境的角度刻畫系統(tǒng)，SVT的目的就是確認(rèn)（或驗收）產(chǎn)品包需求給出的各種應(yīng)用場景產(chǎn)品均能滿足。

 

即使是網(wǎng)頁開發(fā)項目，外包項目，終端的項目，華為的測試仍然會經(jīng)歷以下幾個測試階段：

SIV：System Integration Verify 系統(tǒng)集成驗證

SDV：System design Verify 系統(tǒng)設(shè)計驗證

SIT：System Integration Test 系統(tǒng)集成測試

SVT：System Verification Test 系統(tǒng)確認(rèn)測試（系統(tǒng)模擬測試）

 

迭代結(jié)束后，在正式對外發(fā)布前，會將歷次迭代實現(xiàn)的所有Story再做一次測試，測試 的主體在測試人員，包括功能、非功能，并要給出測試報告。這個活動就稱為SIT或發(fā)布測試。

 

如果Story 測試、迭代SDV測試都自動化了，則本次測試主要是執(zhí)行自動化用例、如前 面有測試不充分，則補(bǔ)充測試，以及詳細(xì)性能測試。如果用例自動化程度不高，則本次測試會 刷選部分用來進(jìn)行測試。測試結(jié)束后需要給出測試報告。
SIT測試重點： 所有迭代開發(fā)完成后，由迭代開發(fā)團(tuán)隊中的測試人員完成對全系統(tǒng)進(jìn)行回歸測試，達(dá)到TR4A的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。遺留問題要滿足TR5的DI（缺陷密度）目標(biāo)。

 

4) 集團(tuán)軍時代：IPD-RD-I&V階段

2008年左右開始推廣敏捷，研發(fā)組織演變?yōu)镻DU方式

引進(jìn)迭代開發(fā)模式，形成IPD-RD-I&V流程

系統(tǒng)集成與驗證流程：IPD-RD-I&V

(I&V：Integrationand Verification)

項目經(jīng)理編寫《項目計劃》，開發(fā)人員產(chǎn)出《SRS》，這時測試組長就要根據(jù)SOW開始編寫《測試計劃》，其中包括人員，軟件硬件資源，測試點，集成順序，進(jìn)度安排和風(fēng)險識別等內(nèi)容。 項目管理論壇

《測試計劃》編寫完成后需要進(jìn)行評審，參與人員有項目經(jīng)理，測試經(jīng)理和系統(tǒng)工程師，測試組長需要根據(jù)評審意見修改《測試計劃》，并上傳到VSS上，由配置管理員管理。 項目管理者聯(lián)盟

項目管理者聯(lián)盟

待開發(fā)人員把《SRS》歸納好并打了基線，測試組長開始組織測試成員編寫《測試方案》，測試方案要求根據(jù)《SRS》上的每個需求點設(shè)計出包括需求點簡介，測試思路和詳細(xì)測試方法三部分的方案?！稖y試方案》編寫完成后也需要進(jìn)行評審，評審人員包括項目經(jīng)理，開發(fā)人員，測試經(jīng)理，測試組長，測試成員和系統(tǒng)工程師，返回評審結(jié)果。測試組長組織測試成員修改測試方案，直到評審?fù)ㄟ^后才進(jìn)入下個階段――編寫測試用例。

測試用例是根據(jù)《測試方案》來編寫的，通過《測試方案》階段，測試人員對整個系統(tǒng)需求有了詳細(xì)的理解。這時開始編寫用例才能保證用例的可執(zhí)行和對需求的覆蓋。測試用例需要包括測試項，用例級別，預(yù)置條件，操作步驟和預(yù)期結(jié)果。其中操作步驟和預(yù)期結(jié)果需要編寫詳細(xì)和明確。測試用例應(yīng)該覆蓋測試方案，而測試方案又覆蓋了測試需求點，這樣才能保證客戶需求不遺漏。同樣，測試用例也需要通過開發(fā)人員，測試人員，系統(tǒng)工程師的評審，測試組長也需要組織測試人員對測試用例進(jìn)行修改，直到評審?fù)ㄟ^。

在我們編寫測試用例的階段，開發(fā)人員基本完成代碼的編寫，同時完成單元測試。轉(zhuǎn)測試部后直接進(jìn)行系統(tǒng)測試。測試部對剛轉(zhuǎn)過來的測試版本進(jìn)行預(yù)測試，如果軟件未實現(xiàn)CheckList清單上的10％，測試部會把該版本打回。否則，軟件轉(zhuǎn)測試部進(jìn)行系統(tǒng)測試。根據(jù)《測試計劃》進(jìn)度安排，測試組長進(jìn)行多輪次的測試，每輪測試完成后測試組長需要編寫測試報告，其中包括用例執(zhí)行通過情況，缺陷分布情況，缺陷產(chǎn)生原因，測試中的風(fēng)險等等，這時測試人員就修改增加測試用例。待到開發(fā)修改完bug并轉(zhuǎn)來新的測試版本，測試部開始進(jìn)行第二輪的系統(tǒng)測試，首先回歸完問題單，再繼續(xù)進(jìn)行測試，編寫第二輪的測試報告，如此循環(huán)下去，直到系統(tǒng)測試結(jié)束。在系統(tǒng)測試期間，測試人員還需要編寫驗收手冊，驗收用例和資料測試用例等。

修改問題單，直到滿足規(guī)定的缺陷密度，才能夠通過相關(guān)TR點。

如果驗收發(fā)現(xiàn)的缺陷率在SOW規(guī)定的范圍內(nèi)，那么驗收成功。如果超過規(guī)定的缺陷率，需要質(zhì)量回溯。

2、不可思議的小米5%

雷軍說：

首先華為工程師的平均收入應(yīng)該是低于小米的，器件采購的成本也應(yīng)該是低于小米的，制造的產(chǎn)線也應(yīng)該是低于小米的，因為有自己的產(chǎn)線。

那么華為的成本花到哪里去了呢？

那么我們看華為的硬件測試過程，就知道成本出在哪里了。

第一、 全程測試參與的流程：

在項目開始的階段，測試人員就開始參與需求分析，對產(chǎn)品的可測試性、測試方案等等因素進(jìn)行評估。

第二、 多層級的測試與試驗

對于電路的設(shè)計，會進(jìn)行單元測試、整機(jī)測試、小批量試制、HALT試驗、環(huán)境試驗、EMC試驗、熱測試、進(jìn)入生產(chǎn)環(huán)節(jié)之后會進(jìn)行HASS試驗。特殊的設(shè)備還會進(jìn)行鹽霧試驗、硫化試驗。整機(jī)結(jié)構(gòu)還會進(jìn)行：跌落試驗、擠壓、扭曲等等。

HALT（Highly accelerated life test）高加速壽命試驗。HALT是一種發(fā)現(xiàn)缺陷的工序，它通過設(shè)置逐級遞增的加嚴(yán)的環(huán)境應(yīng)力，來加速暴露試驗樣品的缺陷和薄弱點，而后對暴露的缺陷和故障從設(shè)計、工藝和用料等諸方面進(jìn)行分析和改進(jìn)，從而達(dá)到提升可靠性的目的，最大的特點是設(shè)置高于樣品設(shè)計運(yùn)行限的環(huán)境應(yīng)力，從而使暴露故障的時間大大短于正?？煽啃詰?yīng)力條件下的所需時間。

環(huán)境試驗是為了保證產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間，在預(yù)期的使用，運(yùn)輸或貯存的所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動。是將產(chǎn)品暴露在自然的或人工的環(huán)境條件下經(jīng)受其作用，以評價產(chǎn)品在實際使用，運(yùn)輸和貯存的環(huán)境條件下的性能，并分析研究環(huán)境因素的影響程度及其作用機(jī)理。

HASS應(yīng)用于產(chǎn)品的生產(chǎn)階段，以確保所有在HALT中找到的改進(jìn)措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由于生產(chǎn)工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。

 

硬件工程師最怕HALT試驗，因為會超越器件的限制范圍去進(jìn)行測試。但是為什么要這么做呢，其實是找到整個設(shè)備的最薄弱點，然后對最薄弱點進(jìn)行改進(jìn)。但是由于超出了器件的允許的工作范圍，異常的情況特別多，原因也復(fù)雜。但是按照規(guī)范必須分析清楚，并給出優(yōu)化措施。這是非常燒腦的意見事情，很多經(jīng)典的問題都是HALT試驗過程中產(chǎn)生的。

 

由于我本人非測試出生，有講的不對的地方請專家指正。最近有若干朋友抱怨小米手環(huán)使用不到一個月就壞了，想到雷軍的5%，就寫下這些。