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同軸信號(hào)引起的輻射發(fā)射(RE)問題案例分享
2025/02/04 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
本文介紹了影響HDMI輻射發(fā)射影響因素之阻抗設(shè)計(jì)。
2025/05/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了時(shí)鐘展頻技術(shù)在輻射發(fā)射問題調(diào)試中的應(yīng)用。
2025/05/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
原子發(fā)射光譜常見激發(fā)光源簡(jiǎn)介。
2026/01/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
針對(duì)半導(dǎo)體器件中所有發(fā)射阿爾法粒子的材料,包括塑封料、焊球、晶圓等,均可進(jìn)行阿爾法粒子發(fā)射率測(cè)試,覆蓋各種阿爾法粒子發(fā)射率等級(jí)。本文主要介紹進(jìn)行阿爾法粒子發(fā)射率測(cè)試的樣品要求。
2020/09/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
我們知道,傳導(dǎo)騷擾的實(shí)質(zhì)是電磁波在低頻時(shí)由于波長(zhǎng)原因需要依附導(dǎo)體進(jìn)行傳播,根據(jù)導(dǎo)體的性質(zhì),我們通常將傳導(dǎo)騷擾分為:電源端傳導(dǎo)騷擾、信號(hào)端傳導(dǎo)騷擾、負(fù)載端傳導(dǎo)騷擾。其中信號(hào)端控制線485和232的傳導(dǎo)騷擾測(cè)試較少,不少小伙伴對(duì)其詳細(xì)的測(cè)試方法掌握的不扎實(shí),現(xiàn)以CISRP 32中對(duì)這兩種線纜的測(cè)試要求進(jìn)行解析。
2021/01/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了差模和共模傳導(dǎo)EMI的產(chǎn)生和消除方法。
2023/03/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了AMT控制器傳導(dǎo)電磁敏感度試驗(yàn)。
2023/11/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了EMC電源傳導(dǎo)、輻射超標(biāo)整改案例。
2024/03/28 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
某型霧化器傳導(dǎo)騷擾(CE)電磁兼容整改案例分析
2019/09/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享