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  • EMC相關(guān)器件簡介——防浪涌電路中的元器件之PTC

    本文主要介紹防浪涌電路中的元器件之PTC以及一些常用的電路。

    2024/12/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 如何選擇具有電磁兼容特性的元器件？

    本文中，小編將對(duì)電磁兼容予以介紹，如果你想對(duì)它的詳細(xì)情況有所認(rèn)識(shí)，或者想要增進(jìn)對(duì)它的了解程度，不妨請(qǐng)看以下內(nèi)容哦。

    2025/02/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 如何正確選擇和使用電磁兼容元器件？

    我們將討論一些常見的用來減少或抑制電磁兼容性的電子元件和電路設(shè)計(jì)技術(shù)。

    2025/09/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 各類電子元器件的關(guān)鍵降額參數(shù)及其通用設(shè)計(jì)準(zhǔn)則

    闡述電子電氣產(chǎn)品降額設(shè)計(jì)內(nèi)涵、理論依據(jù)、各類元件降額準(zhǔn)則、實(shí)踐流程及平衡挑戰(zhàn)，以提升可靠性。

    2025/10/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電子元器件失效率模型速查表（基于MIL-HDBK-217F）

    電子元器件失效率模型速查表（基于MIL-HDBK-217F）

    2025/11/06 更新 分類：檢測(cè)機(jī)構(gòu) 分享

  • 電子元器件老化測(cè)試項(xiàng)目及注意事項(xiàng)

    老化（Burn in）是指在一定的環(huán)境溫度下、較長的時(shí)間內(nèi)對(duì)元器件連續(xù)施加環(huán)境應(yīng)力，而環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS：Environment Stress Screen ）則不僅包括高溫應(yīng)力，還包括其他很多應(yīng)力，例如溫度循環(huán)、隨機(jī)振動(dòng)等，通過電-熱應(yīng)力的綜合作用來加速元器件內(nèi)部的各種物理、化學(xué)反應(yīng)過程，促使隱藏于元器件內(nèi)部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。

    2021/11/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 元器件選型原則

    正確有效地選擇和使用電子元器件是提高電子產(chǎn)品可靠性水平的一項(xiàng)重要工作。

    2018/11/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 元器件儲(chǔ)存可靠性的影響因素有哪些

    元器件的儲(chǔ)存可靠性以及儲(chǔ)存期的長短主要與下列因素有關(guān)

    2019/11/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 從封裝氣密性看元器件可靠性

    氣密封裝元器件可靠性要比非氣密封裝高一個(gè)數(shù)量級(jí)以上，氣密封裝元器件一般按軍標(biāo)、宇航標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格控制設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、測(cè)試、檢驗(yàn)等多個(gè)環(huán)節(jié)，失效率低，多用于高可靠應(yīng)用領(lǐng)域。

    2020/03/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 淺談電子元器件的“保質(zhì)期”

    大多數(shù)電子產(chǎn)品在一定的環(huán)境條件下存放一段時(shí)間后的質(zhì)量通常會(huì)發(fā)生變化，元器件也不例外。當(dāng)貯存超過了規(guī)定的期限，其質(zhì)量和可靠性將不能保證，所以必須規(guī)定一個(gè)貯存期，也可以理解為食品安全的“保質(zhì)期”。

    2020/08/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享