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通過對比不同廠家的鐵橋表面形貌(SEM)、元素分析(EDS)、主成分分析(FTIR)、成分分析(Py-GCMS)、表面接觸角分析、得知出現(xiàn)脫落的鐵橋表面形貌比較光滑、含有較多的C元素、表面接觸角較大、有較多的聚乙烯,結(jié)果表明環(huán)氧膠與鐵橋脫落的根本原因是由于鐵橋表面有較多的聚乙烯蠟,降低了鐵橋的表面能,影響了環(huán)氧膠與涂層的物理吸附能力,影響物理鉚接的形成,導致
2021/07/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法(ICP-OES),是以電感耦合等離子矩為激發(fā)光源的光譜分析方法,具有準確度高和精密度高、檢出限低、測定快速、線性范圍寬、可同時測定多種元素等優(yōu)點,目前已廣泛用于環(huán)境樣品及巖石、礦物、金屬等樣品中數(shù)十種元素的測定。
2022/04/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本工作建立了ICP-MS測定高純鉻中鋁、錳、砷、錫、銻、鎘、汞、鉛、銅、鉍、硼、鑭、鈰等13種痕量元素的分析方法,通過基體匹配法和內(nèi)標法消除基體干擾,在溫和條件下,對于沸點相對較低的成分,測定精度明顯提升,且操作方法簡單高效;優(yōu)化了儀器參數(shù)、工作條件,并驗證了試驗結(jié)果的準確性和精密度。
2021/10/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了稀土元素的檢測方法
2022/11/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
飛行時間二次離子質(zhì)譜分析技術(shù)廣泛應(yīng)用于物理,化學,微電子,生物,制藥,空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面,薄膜,界面以至于三維樣品的元素,分子等結(jié)構(gòu)信息。
2016/01/20 更新 分類:實驗管理 分享
光譜、PQ和鐵譜的測試方法不同,測試范圍也不相同。
2023/06/09 更新 分類:科研開發(fā) 分享
標準物質(zhì)一直是藥品質(zhì)量控制特別是純度和含量分析的首選,但標準物質(zhì)的供需矛盾,如有些雜質(zhì)標準物質(zhì)不易獲取以及多個標準物質(zhì)同時使用所帶來的高昂檢測成本等限制了標準物質(zhì)
2022/07/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了基因毒性雜質(zhì)的定義,有關(guān)基因性雜質(zhì)的參考指南,常見的基因毒性雜質(zhì),基因毒性雜質(zhì)“警示結(jié)構(gòu)”,以及基因毒性雜質(zhì)的控制方法
2021/03/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
藥品中的雜質(zhì)一般包括有機雜質(zhì)、無機雜質(zhì)和殘留溶劑。遺傳毒性雜質(zhì)不同于藥品中的一般雜質(zhì),有著重大的安全風險,極微量水平即能誘發(fā)DNA突變。
2022/01/03 更新 分類:科研開發(fā) 分享
在用機油 基本分析套餐 序號 檢測項目 檢測標準 單項價格(元/個) 1 運動粘度100℃ GB/T 11137 100 2 總堿值 ASTM D2896 150 3 水分 GB/T 260 100 4 閉口閃點 GB/T 261 100 5 光譜元素 ASTM D5185 300 總計:
2017/04/22 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享