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  • 掃描電鏡的樣品制備方法

    掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片

    2017/06/14 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 原子力顯微鏡(AFM)工作原理介紹

    AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱。它的的原理較為簡單，它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 　原子力顯微鏡制樣流程及應(yīng)用

    AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱。AFM制樣時(shí)，對(duì)樣品導(dǎo)電與否沒有要求，因此測(cè)量范圍比較廣泛。

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 原子力顯微鏡之?dāng)?shù)據(jù)分析

    本文講解當(dāng)獲得AFM圖像后，如何正確地進(jìn)行圖像分析和數(shù)據(jù)處理。

    2021/04/13 更新 分類：檢測(cè)案例 分享

  • 各類麻纖維在不同顯微鏡下的特征分析

    紡織用麻纖維最常見的有亞麻、苧麻、大麻，近年來，羅布麻、黃麻的紡織產(chǎn)品也日益增多。這些麻均屬于韌皮纖維，所以微觀形態(tài)與化學(xué)性能都較為相似，因此在使用傳統(tǒng)顯微鏡辨別其具體種類存在一定的難度。

    2018/06/07 更新 分類：生產(chǎn)品管 分享

  • 原子力顯微鏡（AFM）的使用和成像技巧

    根據(jù)針尖與試樣表面相互作用力的變化，AFM主要有3種操作模式：接觸模式(contact mode),非接觸模式(non-contact mode)和敲擊模式(tapping mode)。

    2018/06/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電子顯微圖像的自動(dòng)識(shí)別

    電子顯微鏡和缺陷分析是材料科學(xué)的基石，因?yàn)樗鼈兲峁┝岁P(guān)于微觀結(jié)構(gòu)的詳細(xì)描述以及各種材料和材料體系的性能

    2018/10/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡在光子晶體方面的應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器，主要用于：原材料的篩選（顆粒尺寸范圍，顆粒尺寸統(tǒng)計(jì)，快速篩樣）和組裝過程分析

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡中實(shí)現(xiàn)納米尺度直接操縱位錯(cuò)

    位錯(cuò)對(duì)材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置，對(duì)雙層石墨烯中的位錯(cuò)成像，并同時(shí)在納米尺度原位操縱位錯(cuò)，可以直接揭示線張力、位錯(cuò)相互作用、節(jié)點(diǎn)形成等位錯(cuò)的基本特性。

    2021/02/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 色差和會(huì)聚角對(duì)像分辨率的影響

    在實(shí)際高分辨電子顯微鏡像的觀察中，除物鏡的襯度傳遞函數(shù)外，入射電子的能量變化、色差以及試樣上入射電子的會(huì)聚角等都會(huì)引起分辨率下降。

    2021/04/09 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享