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在ME設(shè)備中,充電或放電時(shí)可能從電池罩殼有氣體逸出時(shí),應(yīng)進(jìn)行通風(fēng)以避免因氣體積聚而導(dǎo)致不可接受的風(fēng)險(xiǎn)和阻止可能的點(diǎn)燃。
2021/04/29 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了死體積該如何定義,死體積大小如何計(jì)算等內(nèi)容。
2025/07/29 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享
無(wú)規(guī)入射吸聲系數(shù)用αs表示,采用混響室法測(cè)量。該方法測(cè)試系統(tǒng)相對(duì)復(fù)雜,首先要有一間體積大于200m3的混響室,所需的試件面積一般在10~14m2左右(依據(jù)混響室的體積確定)。由于聲波在房間內(nèi)大多是無(wú)規(guī)入射到物體及室內(nèi)表面,所以無(wú)規(guī)入射的吸聲系數(shù)更加符合實(shí)際聲場(chǎng)條件。在聲學(xué)工程的設(shè)計(jì)計(jì)算中,如廳堂音質(zhì)混響時(shí)間的計(jì)算、噪聲控制工程的吸聲降噪計(jì)算,都應(yīng)采用
2021/02/02 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù):外觀檢查;X射線透視檢查;切片分析;掃描聲學(xué)顯微鏡;顯微紅外分析;掃描電子顯微鏡分析;X射線能譜分析;光電子能譜(XPS)分析;熱分析差示掃描量熱法及熱機(jī)械分析儀(TMA),并附了案例分析。
2021/07/28 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文采用光強(qiáng)直接調(diào)制和光電轉(zhuǎn)換技術(shù),同時(shí)結(jié)合頻譜分析儀實(shí)現(xiàn)了對(duì)飛機(jī)內(nèi)部低頻電磁輻射信號(hào)的準(zhǔn)確測(cè)試,其技術(shù)實(shí)用而且可靠,通過(guò)實(shí)踐檢驗(yàn),該設(shè)備不僅可用于對(duì)飛機(jī)內(nèi)部的電磁測(cè)試,還可以用到其他的電磁環(huán)境測(cè)量中,應(yīng)用前景廣泛。
2023/03/21 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了UPS功能原理、應(yīng)用、UPS和價(jià)帶譜分析應(yīng)用實(shí)例
2021/08/16 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
光電數(shù)字心電圖機(jī)計(jì)量檢定心率不顯示問(wèn)題的探討
2022/10/24 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文分享被光電子器件行業(yè)廣泛采納的可靠性標(biāo)準(zhǔn) GR-468-CORE-Issue2,了解一下標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于光電子器件可靠性認(rèn)證與評(píng)估相關(guān)知識(shí)內(nèi)容。
2019/06/11 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
對(duì)于光電器件本站已經(jīng)介紹的很多了,但發(fā)現(xiàn)詢(xún)問(wèn)者依然很多,考慮原因主要是搜索能力差,不會(huì)舉一反三。這次將我們?cè)卺t(yī)療器械中常見(jiàn)的光電器件綜述一下,希望對(duì)大家有所幫助。
2023/11/24 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
筆者建立了一種光電比色法銅含量分析儀的校準(zhǔn)方法,可以用于光電比色法銅含量分析儀的計(jì)量校準(zhǔn),保證其量值溯源結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
2025/09/10 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享