您當(dāng)前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
科技進步和對高效智能產(chǎn)品需求的增長進一步奠定了集成電路產(chǎn)業(yè)在國家發(fā)展中的核心地位。而半導(dǎo)體硅單晶作為集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展基石,其對促進技術(shù)革新和經(jīng)濟增長起到至關(guān)重要的作用。
2025/08/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
目前的三元正極材料的顆粒是由一次顆粒團聚而形成的二次顆粒球。而單晶(single-crystal or monocrystal)三元正極材料的顆粒均為分散的一次顆粒。這種獨特的微觀形貌使得單晶三元材料相比二次球材料有著許多優(yōu)勢。
2021/05/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文講述了如何使用電子背散射衍射(EBSD)制樣技術(shù)進行檢測
2021/04/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了戶外現(xiàn)場射線探傷操作的基礎(chǔ)步驟。
2024/11/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
碳化硅(SiC)被認(rèn)為是半導(dǎo)體材料中最具有前途的材料之一
2019/02/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了晶體結(jié)構(gòu),晶面與晶向,晶體中的缺陷,晶體中的雜質(zhì),生長單晶硅及單晶硅性能測試。
2021/08/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
科研人員通過數(shù)字射線成像檢測和常規(guī)射線膠片檢測的對比試驗,驗證數(shù)字射線成像檢測系統(tǒng)對復(fù)雜形狀鑄鋼件的檢測能力和可靠性,從而確定數(shù)字射線成像檢測工藝。
2022/01/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
深圳市美信檢測技術(shù)股份有限公司致力于材料及零部件品質(zhì)檢驗,鑒定,認(rèn)證及失效分析服務(wù),為大家提供最權(quán)威的導(dǎo)熱系數(shù),熱膨脹系數(shù),熱傳遞系數(shù)認(rèn)證服務(wù).
2016/09/27 更新 分類:實驗管理 分享
異物分析目前常見的分析手段有紅外分析及SEM/EDS元素分析,除此之外行業(yè)內(nèi)比較常用的還有X射線光電子能譜分析(XPS), 俄歇電子能譜分析(AES)等。每種分析技術(shù)都有其特點,選擇合適的分析方法才能解決問題。
2019/09/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享
X射線光電子能譜是分析物質(zhì)表面化學(xué)性質(zhì)的一項技術(shù)。
2017/11/07 更新 分類:實驗管理 分享