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原子力顯微鏡有三種基本成像模式，它們分別是接觸式(Contact mode)、非接觸式(non-contact mode)、輕敲式(tapping mode)。
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了原子力顯微鏡(AFM)，原理，基本操作，測(cè)量架構(gòu)，功能技術(shù)，在材料科學(xué)研究中的應(yīng)用及與其它顯微分析技術(shù)的的區(qū)別。
2022/03/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹原子力顯微鏡（AFM）的原理與功能，闡述其在電池電極層多維度表征的應(yīng)用及相關(guān)測(cè)試服務(wù)與送樣要求。
2025/12/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱。它的的原理較為簡(jiǎn)單，它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文講解當(dāng)獲得AFM圖像后，如何正確地進(jìn)行圖像分析和數(shù)據(jù)處理。
2021/04/13 更新 分類：檢測(cè)案例 分享
根據(jù)針尖與試樣表面相互作用力的變化，AFM主要有3種操作模式：接觸模式(contact mode),非接觸模式(non-contact mode)和敲擊模式(tapping mode)。
2018/06/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱。AFM制樣時(shí)，對(duì)樣品導(dǎo)電與否沒有要求，因此測(cè)量范圍比較廣泛。
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
AFM可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱；現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域中，成為納米科學(xué)研究的基本工具。
2017/11/14 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
材料的表面分析技術(shù)主要有3種：俄歇電子能譜分析（AES）、X射線光電子能譜分析(XPS) 、原子力顯微鏡（AFM），今天主要對(duì)比學(xué)習(xí)前兩種。
2020/07/13 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
中國(guó)科學(xué)院力學(xué)研究所非線性力學(xué)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室項(xiàng)目研究員關(guān)東石主要從事微納尺度流體力學(xué)研究，利用新型懸針式原子力顯微鏡（圖a），在研究微納尺度下浸潤(rùn)動(dòng)力學(xué)、接觸角的遲滯和弛豫的微觀力學(xué)機(jī)制等研究中取得進(jìn)展（Guan et al. Phys. Rev. Lett. 116，066102 (2016) & Phys. Rev. E 94，042802 (2016)）。
2020/10/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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