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原子力顯微鏡有三種基本成像模式，它們分別是接觸式(Contact mode)、非接觸式(non-contact mode)、輕敲式(tapping mode)。
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了原子力顯微鏡(AFM)，原理，基本操作，測量架構，功能技術，在材料科學研究中的應用及與其它顯微分析技術的的區(qū)別。
2022/03/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹原子力顯微鏡（AFM）的原理與功能，闡述其在電池電極層多維度表征的應用及相關測試服務與送樣要求。
2025/12/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。它的的原理較為簡單，它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文講解當獲得AFM圖像后，如何正確地進行圖像分析和數據處理。
2021/04/13 更新 分類：檢測案例 分享
根據針尖與試樣表面相互作用力的變化，AFM主要有3種操作模式：接觸模式(contact mode),非接觸模式(non-contact mode)和敲擊模式(tapping mode)。
2018/06/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。AFM制樣時，對樣品導電與否沒有要求，因此測量范圍比較廣泛。
2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
AFM可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱；現已廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中，成為納米科學研究的基本工具。
2017/11/14 更新 分類：實驗管理 分享
材料的表面分析技術主要有3種：俄歇電子能譜分析（AES）、X射線光電子能譜分析(XPS) 、原子力顯微鏡（AFM），今天主要對比學習前兩種。
2020/07/13 更新 分類：實驗管理 分享
中國科學院力學研究所非線性力學國家重點實驗室項目研究員關東石主要從事微納尺度流體力學研究，利用新型懸針式原子力顯微鏡（圖a），在研究微納尺度下浸潤動力學、接觸角的遲滯和弛豫的微觀力學機制等研究中取得進展（Guan et al. Phys. Rev. Lett. 116，066102 (2016) & Phys. Rev. E 94，042802 (2016)）。
2020/10/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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