您當(dāng)前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
電子顯微鏡和缺陷分析是材料科學(xué)的基石,因為它們提供了關(guān)于微觀結(jié)構(gòu)的詳細(xì)描述以及各種材料和材料體系的性能
2018/10/09 更新 分類:科研開發(fā) 分享
掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。
2019/09/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器,主要用于:原材料的篩選(顆粒尺寸范圍,顆粒尺寸統(tǒng)計,快速篩樣)和組裝過程分析
2019/09/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
位錯對材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置,對雙層石墨烯中的位錯成像,并同時在納米尺度原位操縱位錯,可以直接揭示線張力、位錯相互作用、節(jié)點形成等位錯的基本特性。
2021/02/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
在實際高分辨電子顯微鏡像的觀察中,除物鏡的襯度傳遞函數(shù)外,入射電子的能量變化、色差以及試樣上入射電子的會聚角等都會引起分辨率下降。
2021/04/09 更新 分類:實驗管理 分享
本文通過掃描電子顯微鏡 ( SEM) 和透射電子顯微鏡(TEM) 相結(jié)合的方法探討了應(yīng)力發(fā)白產(chǎn)生的原因,并通過加入不同種類的增韌劑、相容劑,以及提高色粉的含量以改善應(yīng)力發(fā)白的情況。
2023/04/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
采用掃描電子顯微鏡(SEM)與X射線能譜儀(EDS)聯(lián)合應(yīng)用的方法對材料進(jìn)行微區(qū)化學(xué)成分分析是一種重要的分析手段。
2024/11/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將深入探討器件吸水對SAM檢測波形的影響機(jī)制,分析“假粘附”現(xiàn)象的成因,并提出相應(yīng)的識別與應(yīng)對策略,以提高SAM檢測的準(zhǔn)確性和可靠性。
2026/01/13 更新 分類:實驗管理 分享
郭光燦院士團(tuán)隊周正威教授研究組在量子模擬方面取得重要進(jìn)展,該團(tuán)隊與美國萊斯大學(xué)、加州大學(xué)圣迭戈分校、中科院物理所合作,提出了一種在冷原子系統(tǒng)中模擬磁單極場的新方案,從而為在冷原子系統(tǒng)中研究曲面上的量子霍爾效應(yīng)及尋找新的奇異量子態(tài)提供了理論指導(dǎo)。
2018/04/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
氫氣被認(rèn)為是極有前景的清潔能源之一,為了能夠從水中有效地獲取氫能源,電化學(xué)析氫反應(yīng)(HER)是一個十分重要的途徑。傳統(tǒng)的鉑基電析氫催化劑盡管表現(xiàn)十分優(yōu)異,但其商業(yè)化過程受限于鉑元素稀少的儲量和高昂的價格。
2018/06/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享