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本文介紹了研發(fā)各階段的質(zhì)量管控精髓。
2024/05/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將對TKY管節(jié)點(diǎn)焊縫的超聲檢測進(jìn)行分析,并結(jié)合實(shí)例進(jìn)行詳細(xì)討論。
2024/08/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了MOS管的開通關(guān)斷過程分析。
2024/12/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
今天給大家講一下關(guān)于MOS管燒毀的原因。
2025/02/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文討論光子計數(shù)CT,對球管提出哪些新要求?
2025/02/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
MOS管開關(guān)電路設(shè)計詳解。
2025/11/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
為什么同樣是 PTFE 內(nèi)襯鞘管,有的彎折后容易起皺、分層,而有的卻能長期穩(wěn)定使用?
2025/12/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
位錯對材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置,對雙層石墨烯中的位錯成像,并同時在納米尺度原位操縱位錯,可以直接揭示線張力、位錯相互作用、節(jié)點(diǎn)形成等位錯的基本特性。
2021/02/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
PC模塊在進(jìn)行靜電放電測試時,發(fā)現(xiàn)對雙層USB端子、RJ45端子的金屬外殼進(jìn)行±6KV接觸放電測試時出現(xiàn)顯示黑屏、畫異,拔插HDMI信號后無法正常顯示,系統(tǒng)出現(xiàn)宕機(jī)、死機(jī)現(xiàn)象。
2024/07/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文設(shè)計出了兩組負(fù)極片,一組是將包覆石墨和非包覆石墨混合使用,另一組是具有雙層結(jié)構(gòu)的負(fù)極片,表層是包覆石墨,底層是非包覆石墨。
2025/02/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享