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  • 可靠性試驗之壽命試驗

    評價、分析產(chǎn)品壽命特征的試驗稱為壽命試驗,它是可靠性鑒定與驗收試驗中最重要的一類試驗。

    2019/09/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • HALT/HASS試驗綜述

    近年來,可靠性加速試驗中的高加速應力試驗(HAST,highly accelerated stress test)及極限應力試驗(Limil test)技術(shù)不斷發(fā)展,為考核產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,快速暴露產(chǎn)品的設(shè)計和制造缺陷,提高其可靠性提供了強有力的工具。

    2017/07/14 更新 分類:法規(guī)標準 分享

  • 醫(yī)療器械臨床試驗中CRC應對稽查的策略

    在臨床試驗中,稽查是一項重要的質(zhì)量保證措施,用于評估試驗的合規(guī)性和數(shù)據(jù)的可靠性。

    2024/02/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 壽命試驗的可靠性測試詳解

    壽命試驗是可靠性試驗中最重要、最基本的內(nèi)容之一。它是將樣品放在特走的試驗條件下,測量其失效(損耗)的數(shù)量隨時間的分布情況。因為失效是按先后次序出現(xiàn)的,所以可利用次序統(tǒng)計量理論來分析壽命試驗數(shù)據(jù),從而可以確定產(chǎn)品的壽命特征、失效分布規(guī)律,計算產(chǎn)品的失效率和平均壽命等可靠性指標。此外,還可以從中確定產(chǎn)品合理的可靠性篩選工藝及條件,進一步改

    2021/01/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 多種可靠性試驗所需設(shè)備性能及參考標準介紹

    本文介紹了可靠性試驗所需設(shè)備,包括步入式溫濕度試驗箱,太陽輻射箱,鹽霧試驗箱等設(shè)備。

    2021/05/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 如何將可靠性需求轉(zhuǎn)化為試驗條件?

    在競爭激烈的市場環(huán)境中,產(chǎn)品可靠性不僅是滿足客戶期望的核心要素,更是企業(yè)品牌聲譽與長期生存的基石??煽啃孕枨笞鳛楫a(chǎn)品設(shè)計的起點,最終需要通過嚴謹?shù)脑囼炦M行驗證。如何精準地將這些需求轉(zhuǎn)化為科學、有效的可靠性試驗條件,是確保產(chǎn)品在真實環(huán)境中表現(xiàn)可靠的關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié)。本文將深入探討這一轉(zhuǎn)化過程,揭示其內(nèi)在邏輯與方法體系。

    2025/10/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 可靠性測試中的HALT實驗與HASS實驗

    可靠性測試中的HALT實驗與HASS實驗 HALT HASS是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法,現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。

    2015/11/26 更新 分類:實驗管理 分享

  • 可靠性鑒定試驗的鑒別比越大越好嗎

    產(chǎn)品可靠性的合同指標一般包括規(guī)定值和最低可接受值。規(guī)定值是合同和研制任務書中規(guī)定的期望達到的指標,是承制方進行可靠性設(shè)計的依據(jù)。

    2019/03/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 降低可靠性指標驗證費用的工程方法

    本文提出了包括內(nèi)外場結(jié)合法、加速可靠性試驗法、合并試驗剖面法等多種工程方法,來降低承研單位的可靠性驗證費用支出,并結(jié)合案例闡明了本文方法的有效性。

    2020/02/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • LED芯片壽命試驗過程全解析

    LED具有體積小,耗電量低、長壽命環(huán)保等優(yōu)點,在實際生產(chǎn)研發(fā)過程中,需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行*價,并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平,以保證LED芯片質(zhì)量。

    2016/04/27 更新 分類:實驗管理 分享