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HALT方法是為了提高產(chǎn)品的可靠性,而并非為了評(píng)估產(chǎn)品的可靠性。
2019/02/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將深入探討該試驗(yàn)的參考標(biāo)準(zhǔn)、詳細(xì)試驗(yàn)條件以及系統(tǒng)化的開展方法,為電子制造、質(zhì)量和可靠性工程師提供一份全面的實(shí)踐指南。
2025/10/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性驗(yàn)證試驗(yàn)大綱應(yīng)包括什么?
2017/05/04 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
匯總了全球多國,包括中國在內(nèi)的384個(gè)可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
2018/10/29 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
元器件可靠性試驗(yàn)類型及潛在缺陷一覽表
2020/01/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將系統(tǒng)論述DVT階段可靠性試驗(yàn)樣品數(shù)量的確定方法、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和計(jì)算原理,為工程實(shí)踐提供理論指導(dǎo)和實(shí)踐參考。
2025/12/30 更新 分類:科研開發(fā) 分享
為了快速發(fā)現(xiàn)LED光源模塊的失效點(diǎn)和薄弱點(diǎn),通常采用加速壽命試驗(yàn)對(duì)其進(jìn)行可靠性研究試驗(yàn)
2015/11/26 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
產(chǎn)品壽命可靠性試驗(yàn)MTBF計(jì)算規(guī)范
2018/12/01 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文針對(duì)某伺服機(jī)構(gòu)控制器電路板采用故障物理方法進(jìn)行失效分析。
2023/06/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)采用激發(fā)應(yīng)力環(huán)境(其應(yīng)力水平可能遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過正常使用環(huán)境)進(jìn)行試驗(yàn),快速激發(fā)產(chǎn)品潛在缺陷,使其以故障形式表現(xiàn)出來,通過故障原因分析、失效模式分析和改進(jìn)措施消除缺陷,提高產(chǎn)品可靠性,并大幅度提高試驗(yàn)效率、降低成本。
2016/07/22 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享