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芯片的壽命試驗HTOL(high temperature operation life)測試,曾經(jīng)被認為某個芯片通過了HTOL 測試之后,就能夠達到10年的壽命要求,其實不然。本文介紹了其主要原因。
2021/05/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
科研人員通過數(shù)字射線成像檢測和常規(guī)射線膠片檢測的對比試驗,驗證數(shù)字射線成像檢測系統(tǒng)對復雜形狀鑄鋼件的檢測能力和可靠性,從而確定數(shù)字射線成像檢測工藝。
2022/01/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
一個可靠性流程案例分享。
2021/07/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
高加速壽命試驗(HALT) HALT 測試使用于產(chǎn)品的設(shè)計研發(fā)階段,通過給產(chǎn)品施加逐級遞增的環(huán)境應力以找出產(chǎn)品的使用極限和破壞極限,暴露出產(chǎn)品先天的各種缺陷和薄弱點,設(shè)計研發(fā)人
2016/07/19 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
隨著技術(shù)的進步,產(chǎn)品的可靠性愈來愈高,一架飛機壽命長達10~20年,空中飛行3-5萬小時,通訊衛(wèi)星的壽命長達10—15年。傳統(tǒng)的可靠性設(shè)計、試驗驗證技術(shù)滿足不了日益發(fā)展的要求
2018/07/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
振動試驗的目的在于確定所設(shè)計、制造的機器、構(gòu)件在運輸和使用過程中承受外來振動或者自身產(chǎn)生的振動而不至破壞,并發(fā)揮其性能、達到預定壽命的可靠性。
2015/12/02 更新 分類:實驗管理 分享
隨機振動是指一種振動波形雜亂、對未來任何一個給定時刻其瞬時值不能預先確定,其波形隨時間的變化顯示不出一定規(guī)律的振動,無法用確定性函數(shù)解釋其規(guī)律。
2019/12/19 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
低溫試驗是用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下的使用、運輸或存儲能力。隨著科學技術(shù)不斷發(fā)展,對產(chǎn)品的要求不斷提高,電子產(chǎn)品低溫工作的質(zhì)量與可靠性指標備受關(guān)注。
2019/11/29 更新 分類:法規(guī)標準 分享
阿倫尼斯模型適用于單純考慮熱效應試驗的加速模型,當溫度是影響產(chǎn)品老化及使用壽命的絕對因素時,采用該加速模型來模擬整個壽命周期的可靠性表現(xiàn)。
2024/08/09 更新 分類:法規(guī)標準 分享
應用于航天領(lǐng)域的低噪聲放大器,作為無線通信設(shè)備的前段核心部件,其工作環(huán)境復雜,無法進行及時的更換和維修。為了保障無線通信設(shè)備要求高可靠、長壽命,本文選擇四通道接收組件一只進行熱真空試驗。
2024/10/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享