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可靠性測試中的HALT實驗與HASS實驗 HALT HASS是由美國軍方所延伸出的設(shè)計質(zhì)量驗證與制造質(zhì)量驗證的試驗方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標準產(chǎn)品驗證方法。
2015/11/26 更新 分類：實驗管理 分享
航天產(chǎn)品的質(zhì)量和壽命取決于產(chǎn)品設(shè)計、研制生產(chǎn)和試驗全過程的可靠性,而電子元器件的可靠性又是整個設(shè)備可靠性的基礎(chǔ)。由于航天產(chǎn)品的不可維修 性,有可能因為一個小小的電子元器件的失效而導致整個航天產(chǎn)品的失效,航天系統(tǒng)多年以來的經(jīng)驗教訓足以證明這一點。
2017/05/11 更新 分類：法規(guī)標準 分享
產(chǎn)品可靠性的合同指標一般包括規(guī)定值和最低可接受值。規(guī)定值是合同和研制任務書中規(guī)定的期望達到的指標，是承制方進行可靠性設(shè)計的依據(jù)。
2019/03/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了可靠性強化試驗的理論基礎(chǔ)強度- 應力準則、不同生產(chǎn)過程的產(chǎn)品強度分布的特點，以及可靠性強化試驗的設(shè)計方法
2019/08/01 更新 分類：法規(guī)標準 分享
可靠性物理分析（也俗稱失效物理分析，失效分析）更多的是了解器件材料在各種應力條件下的變化最終導致失效的物理或者化學機制，從而通過設(shè)計避免或者是量化這些物理和化學機制對最終產(chǎn)品可靠性的影響。
2019/12/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文以水下航行器電子設(shè)備為對象，采用基于失效物理的可靠性方法，通過預計仿真,研究其在溫度、相對濕度、溫升、振動、循環(huán)次數(shù)、功耗等因素變化下對可靠性的影響。其次采用響應面、Kriging（克里格）、正交多項式等方法進行近似建模，可快速分析環(huán)境因素對可靠性的影響，提高分析效率，促進優(yōu)化和改進設(shè)計。
2020/12/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文基于上海10號線城軌車輛低壓直流斷路器現(xiàn)場應用的故障數(shù)據(jù)，利用威布爾分布的擬合度檢驗、參數(shù)估計，求解三參數(shù) 威布爾分布函數(shù)，擬合斷路器失效率曲線，從而得出低壓直流斷路器屬于故障率逐漸下降的早期失效的結(jié)論，為城軌車 輛可靠性設(shè)計及以可靠性為中心的維護性（RCM）活動提供一定的參考意義。
2022/03/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
可靠性鑒定試驗是為驗證產(chǎn)品的設(shè)計是否達到了規(guī)定的可靠性要求，由認購方認可的單位按選定的抽樣方案抽取具有代表性的產(chǎn)品，并在規(guī)定條件下所進行的試驗。
2024/08/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享
基于故障物理（Physics of Failure, PoF）的分析方法，通過深入理解材料劣化與結(jié)構(gòu)失效的內(nèi)在機制，結(jié)合環(huán)境與工作載荷，為電路板的可靠性設(shè)計、評估和壽命預測提供了強有力的科學工具，正成為現(xiàn)代電子可靠性工程的基石。
2025/09/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享
FPGA和ASIC在降低功耗的同時，也具有越來越多的驅(qū)動電壓，某些器件還特別對各種電壓的上電順序有嚴格的要求。硬件工程師在應用這些器件進行系統(tǒng)功能設(shè)計的同時，也將越來越多的面臨如何提高電源可靠性方面的挑戰(zhàn)。
2020/08/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享
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