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本文詳細(xì)講解了電子元件的可靠性與可靠性試驗(yàn)的相關(guān)內(nèi)容
2021/04/02 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文依據(jù)可靠性的基本定義,從導(dǎo)致產(chǎn)品失效的物理模型分析出發(fā),對(duì)可靠性試驗(yàn)的類(lèi)型及技術(shù)體系進(jìn)行闡述,可以為型號(hào)更好的制定可靠性試驗(yàn)工作計(jì)劃提供參考。
2021/05/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文以某GaN基HEMT型微波開(kāi)關(guān)為例研究可靠性評(píng)價(jià)技術(shù),結(jié)合其材料結(jié)構(gòu)特性、失效模式、應(yīng)用模式和可靠性指標(biāo)設(shè)計(jì)可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)。
2022/01/11 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目有哪些,進(jìn)行可靠性試驗(yàn)需要具備什么條件。
2024/09/25 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性試驗(yàn)應(yīng)力如何選擇,可靠性試驗(yàn)大綱應(yīng)包含哪些內(nèi)容。
2024/09/26 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文詳細(xì)講解了如何進(jìn)行清潔驗(yàn)證及清潔驗(yàn)證的一些注意事項(xiàng)
2021/04/03 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了方法學(xué)驗(yàn)證的內(nèi)容及方法學(xué)驗(yàn)證的可接受標(biāo)準(zhǔn)。
2021/08/27 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文結(jié)合驗(yàn)證實(shí)例對(duì)方法學(xué)驗(yàn)證中的偏差閉環(huán)給出一些方法,供同行參考。
2023/10/09 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
工藝驗(yàn)證要求至少進(jìn)行連續(xù)三批次的工藝驗(yàn)證,究竟“連續(xù)三批”指的是什么要求?
2024/02/29 更新 分類(lèi):生產(chǎn)品管 分享
本文討論了清潔驗(yàn)證取樣方法的類(lèi)型,驗(yàn)證取樣回收研究以及取樣人員的培訓(xùn)及資質(zhì)。
2024/08/27 更新 分類(lèi):生產(chǎn)品管 分享