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電子元器件在使用過程中，常常會(huì)出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。

2020/10/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子元器件可靠性標(biāo)準(zhǔn)，不僅可為LED可靠性標(biāo)準(zhǔn)的制定發(fā)揮承前啟后、繼往開來的作用，還可與已經(jīng)公布的LED標(biāo)準(zhǔn)一起成為凈化LED市場的法規(guī)。

2021/03/29 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

器件選型是可靠性工程師經(jīng)常要開展的工作，器件選型思考的深度和廣度，非常能考驗(yàn)可靠性工程師的功力，也暴露了你的可靠性功底。作為產(chǎn)品可靠性工程師，你應(yīng)該了解以下知識，這也是提升可靠性功力的重要方面。

2021/07/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

GJB548《微電子器件試驗(yàn)方案和程序》規(guī)定了軍用微電子器件的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)、電學(xué)試驗(yàn)和檢驗(yàn)程序。

2023/07/04 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

GJB4027《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用電子元器件破壞性物理分析(DPA)的通用方法。

2023/07/17 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

對于光電器件本站已經(jīng)介紹的很多了，但發(fā)現(xiàn)詢問者依然很多，考慮原因主要是搜索能力差，不會(huì)舉一反三。這次將我們在醫(yī)療器械中常見的光電器件綜述一下，希望對大家有所幫助。

2023/11/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享

《半導(dǎo)體器件的失效機(jī)理和模型》將針對硅基半導(dǎo)體器件常見的失效機(jī)理展開研究。本文對FEoL階段的負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性（NBTI）失效模式進(jìn)行研究

2024/10/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了光耦合器是選擇車規(guī)級光電器件AEC-Q102認(rèn)證還是功率器件AEC-Q101認(rèn)證。

2025/01/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文將系統(tǒng)性地探討電阻、電容、電感、半導(dǎo)體器件、集成電路及機(jī)電元件等常用電子元器件的典型故障模式、內(nèi)在機(jī)理及外部影響因素。

2025/11/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

失效分析對電子元器件失效機(jī)理、原因的診斷過程，是提高電子元器件可靠性的必由之路。

2015/11/18 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享