您當前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
本文對于典型電子元器件的耐受環(huán)境極限進行分析,研究表明,電子設(shè)備對于熱環(huán)境及沖擊、振動環(huán)境比較敏感,易發(fā)生焊點失效及其他結(jié)構(gòu)失效。
2020/03/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件可靠性需要進行物理特性測試項目、機械完整性試驗項目、加速老化試驗項目
2020/06/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹元器件破壞性物理分析(DPA)的定義、目的和意義以及DPA工作的方法和程序。
2020/10/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹元器件二次(補充)篩選實施應(yīng)注意的七項問題。
2020/10/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹幾個可用于LED可靠性評估的電子元器件標準,以便引導(dǎo)大家去學(xué)習和掌握,能夠?qū)⑵溥\用于LED。
2020/11/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹提高功率半導(dǎo)體器件可靠性的措施。
2020/12/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文著重介紹常用防護器件在產(chǎn)品中的基本應(yīng)用,通過防護電路來提高產(chǎn)品抗靜電、抗浪涌干擾的能力,從而提高產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
2021/03/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了電子元器件失效分析(FA),破壞性物理分析(DPA),其他人為因素造成的失效。
2021/05/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
為了避免選型過程中犯過的錯誤再犯,我們結(jié)合理論分析、實踐數(shù)據(jù)、成功經(jīng)驗、失敗教訓(xùn)等,整理出一些器件選型規(guī)范。
2021/09/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了國內(nèi)外軍用元器件超期復(fù)驗要求。
2021/09/07 更新 分類:法規(guī)標準 分享