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本文主要介紹了元器件失效類型,老化篩選的作用和內(nèi)容及老化篩條件和方法。
2022/02/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本位主要介紹了MLCC的選擇標(biāo)準(zhǔn),MLCC的老化,最好根據(jù)電壓要求留有余地及實(shí)現(xiàn)小型化的動(dòng)力。
2022/02/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了半導(dǎo)體器件失效機(jī)理與原因分析,熱過應(yīng)力及電過應(yīng)力。
2022/05/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了常見的用來減少或抑制電磁兼容性的電子元件和電路設(shè)計(jì)技術(shù)。
2022/06/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將介紹LNA 和PA 的作用和要求及其主要特性,然后介紹典型的GaAs 和GaN 器件以及利用這些器件進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)的注意事項(xiàng)。
2023/02/03 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文提出了一種環(huán)境適應(yīng)性定量評(píng)價(jià)方法,采用多級(jí)綜合評(píng)價(jià)方法建立了兩層評(píng)價(jià)指標(biāo)體系。
2023/03/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
中國科學(xué)院微電子研究所微電子器件與集成技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室劉明院士團(tuán)隊(duì)從理論方面提出了載流子的“集體輸運(yùn)效應(yīng)”(collective transport)的物理機(jī)制。
2023/05/11 更新 分類:行業(yè)研究 分享
本文介紹了電子可靠性設(shè)計(jì)原則、規(guī)范、可靠性測試、元器件選型及元器件失效機(jī)理與分析方法。
2023/05/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
對(duì)元器件造成損傷的主要是三種模式,即帶點(diǎn)人體的靜電放電模式、帶電機(jī)器的放電模式和充電器件的放電模式。
2023/05/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享
靜電放電(ESD)是一種可嚴(yán)重影響電子醫(yī)療器械的問題,會(huì)導(dǎo)致微電子元件故障和損壞。
2023/07/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享