您當(dāng)前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
本文介紹了LED芯片原理與光電器件車規(guī)級AEC-Q102認(rèn)證。
2025/01/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文中,小編將對電磁兼容予以介紹,如果你想對它的詳細(xì)情況有所認(rèn)識,或者想要增進(jìn)對它的了解程度,不妨請看以下內(nèi)容哦。
2025/02/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
了解半導(dǎo)體器件物理第一步,我們必須首先了解能帶,了解能帶是如何形成的,以及帶隙一詞的來源。
2025/07/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
由開關(guān)拓?fù)涔β势骷?即使是小功率器件)所產(chǎn)生的噪聲所引起的電磁干擾(EMI),是一個(gè)持續(xù)存在的問題。
2025/08/01 更新 分類:科研開發(fā) 分享
我們將討論一些常見的用來減少或抑制電磁兼容性的電子元件和電路設(shè)計(jì)技術(shù)。
2025/09/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
今天的主角是一批還沒米粒大的三極管。本來指望它們能在客戶那里大放異彩,結(jié)果沒走出實(shí)驗(yàn)室,就在可靠性測試環(huán)節(jié)“集體陣亡”。
2025/09/26 更新 分類:檢測案例 分享
闡述電子電氣產(chǎn)品降額設(shè)計(jì)內(nèi)涵、理論依據(jù)、各類元件降額準(zhǔn)則、實(shí)踐流程及平衡挑戰(zhàn),以提升可靠性。
2025/10/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件失效率模型速查表(基于MIL-HDBK-217F)
2025/11/06 更新 分類:檢測機(jī)構(gòu) 分享
本文闡釋 Buck 電路的降壓工作原理,詳解控制器芯片、MOS 管等核心器件的選型標(biāo)準(zhǔn)與參數(shù)計(jì)算,助力電子電氣設(shè)備電源設(shè)計(jì)。
2026/01/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情,比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。
2017/11/01 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享