您當(dāng)前的位置：檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁(yè)
本文主要介紹了微電子器件封裝失效機(jī)理與對(duì)策：封裝材料α射線引起的軟誤差，水汽引起的分層效應(yīng)，金屬化腐蝕及鍵合引線失效。
2022/01/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文選取了一種典型的塑封器件絕緣膠失效案例，對(duì)塑封器件的失效進(jìn)行分析，并提出了改進(jìn)措施以及在設(shè)計(jì)時(shí)的注意事項(xiàng)。
2022/01/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文對(duì)六角凸緣螺栓斷裂失效件的化學(xué)成分、表面硬度、斷口形貌及顯微組織進(jìn)行理化檢測(cè)，分析和推斷螺栓失效件斷裂的原因以及斷裂形成機(jī)理。
2022/02/24 更新 分類：檢測(cè)案例 分享
本文分析了PCB板組件在不同環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生失效及其相應(yīng)失效的原因。
2022/03/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了一種波峰焊工藝陶瓷電容的失效案例，與常見IR降低不同，此失效電容內(nèi)部未發(fā)現(xiàn)任何裂紋和缺陷。
2022/05/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文以圖騰柱驅(qū)動(dòng)電路為例，針對(duì)電路無法輸出高電平的失效表現(xiàn)，基于電路分析，得到失效的可能因素，為根因分析工作的開展打下基礎(chǔ)。
2022/08/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文以LED硫化腐蝕失效為例，通過開封檢查、顯微分析、切片分析、硫化試驗(yàn)等測(cè)試方法，分析其失效原因與機(jī)理，并提出預(yù)防措施。
2022/11/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享
汽車下擺臂在超強(qiáng)壞路試驗(yàn)中發(fā)生斷裂，路試?yán)锍蹋?.6PH1(相當(dāng)于37440km)?？蛻羲蜋z失效樣品進(jìn)行檢測(cè)分析，以期找出失效原因。
2024/05/25 更新 分類：檢測(cè)案例 分享
客戶鋁合金外殼在生產(chǎn)陽(yáng)極完成后，即發(fā)現(xiàn)部分產(chǎn)品內(nèi)腔開裂。依客戶要求，對(duì)開裂失效樣品進(jìn)行失效分析，以期找出失效原因。
2024/08/23 更新 分類：檢測(cè)案例 分享
本文以某電磁閥內(nèi)線圈斷路失效為例，通過失效確認(rèn)、化學(xué)溶解、物理拆解等測(cè)試方法，分析其失效原因與機(jī)理。
2024/10/30 更新 分類：檢測(cè)案例 分享
關(guān)于我們 聯(lián)系我們 營(yíng)業(yè)執(zhí)照 全國(guó)服務(wù)電話：400-818-0021 嘉峪檢測(cè)版權(quán)所有 備案號(hào)：京ICP備14047019號(hào)-2 
京公網(wǎng)安備11010802046783號(hào)
