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您當(dāng)前的位置：檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁(yè)

  • 借助于PFMEA選擇控制圖判異準(zhǔn)則

    PFMEA，可以幫助我們?nèi)嬲J(rèn)識(shí)所控過(guò)程的失效模式及其失效起因，我們就會(huì)提前知道當(dāng)某種失效起因存在時(shí)，它所導(dǎo)致的失效模式，或者失效起因，在控制圖上會(huì)以一種什么方式顯現(xiàn)，這樣就可以選擇與其對(duì)應(yīng)的那條判異準(zhǔn)則。

    2022/11/30 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 多層陶瓷電容器（MLCC）的失效模式與失效分析案例

    MLCC 在電子產(chǎn)品中的關(guān)鍵作用，分析其特性、失效模式與機(jī)理，結(jié)合案例給出全生命周期防范措施，以降低失效風(fēng)險(xiǎn)。

    2025/10/14 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • 可靠性之失效分析從基礎(chǔ)到實(shí)操方法知識(shí)匯總

    一文吃透 失效分析 技術(shù)：可靠性工程師必備教學(xué)指南 在產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)到使用的全生命周期中，失效 是繞不開(kāi)的話(huà)題 小到手機(jī)電池突然斷電，大到工業(yè)設(shè)備停機(jī)故障，失效不僅影響

    2025/10/31 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • 鋁電解電容的主要失效模式與失效分析案例

    鋁電解電容失效多因溫度、電應(yīng)力及機(jī)械損傷?？茖W(xué)選型、優(yōu)化設(shè)計(jì)（尤其大尺寸電容點(diǎn)膠）、規(guī)范運(yùn)輸與維護(hù)，可降低70%?以上失效率。當(dāng)前大容量場(chǎng)景下，掌握這些要點(diǎn)是提升設(shè)備可靠性的關(guān)鍵。

    2025/11/04 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • PCB失效典型模式與失效分析流程

    本文將帶您讀懂PCB（硬板）的 “體質(zhì)” 特性，解析其失效的典型模式與機(jī)理，通過(guò)真實(shí)案例展示失效分析流程，并給出從設(shè)計(jì)到測(cè)試的全鏈條防控方案，為電子設(shè)備可靠性筑牢防線。

    2025/12/22 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • 鋰電池失效機(jī)理綜述與優(yōu)化策略

    本文綜合評(píng)述了鋰離子電池常見(jiàn)的失效形式及其對(duì)應(yīng)的失效機(jī)理，包括結(jié)構(gòu)損傷、電解質(zhì)降解以及熱失控等方面。并對(duì)未來(lái)優(yōu)化鋰離子電池性能進(jìn)行展望，旨在推動(dòng)儲(chǔ)能鋰電池失效分析技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展。

    2026/01/16 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 金屬失效常見(jiàn)類(lèi)型與金屬失效常用分析手段

    通過(guò)失效分析，找出失效原因，提出有效改進(jìn)措施以防止類(lèi)似失效事故的重復(fù)發(fā)生，從而保證工程的安全運(yùn)行是必不可少的。

    2017/05/17 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • PCB可靠性問(wèn)題失效分析思路

    PCB在實(shí)際可靠性問(wèn)題失效分析中，同一種失效模式，其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。在此過(guò)程中，任何一個(gè)環(huán)節(jié)稍有疏忽，都有可能造成“冤假錯(cuò)案”。

    2020/07/09 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • pcb失效分析技術(shù)

    隨著電子信息產(chǎn)品的小型化以及無(wú)鉛無(wú)鹵化的環(huán)保要求，PCB也向高密度高Tg以及環(huán)保的方向發(fā)展。但是由于成本以及技術(shù)的原因，PCB在生產(chǎn)和應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)了大量的失效問(wèn)題，并因此引發(fā)了許多的質(zhì)量糾紛。為了弄清楚失效的原因以便找到解決問(wèn)題的辦法和分清責(zé)任，必須對(duì)所發(fā)生的失效案例進(jìn)行失效分析。

    2020/11/18 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電子器件失效分析流程

    在電子元器件從設(shè)計(jì)到使用的全生命周期中，失效分析（Failure Analysis, FA）是確?？煽啃缘暮诵沫h(huán)節(jié)。它如同電子世界的"法醫(yī)學(xué)"，通過(guò)系統(tǒng)化的方法揭示器件失效的真相。本文將側(cè)重說(shuō)明失效物理分析（PFA）的基本程序、常見(jiàn)失效模式與機(jī)理，以及關(guān)鍵注意事項(xiàng)，帶您走進(jìn)精密電子器件的微觀世界。

    2025/08/20 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享