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X熒光光譜儀分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法,任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性,所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。
2017/03/22 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級(jí)高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對(duì)各種材料和樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè),或者直接進(jìn)行納米操縱。AFM制樣時(shí),對(duì)樣品導(dǎo)電與否沒有要求,因此測(cè)量范圍比較廣泛。
2019/09/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
雖然分流進(jìn)樣方式有許多弊端,但是由于它操作簡(jiǎn)便、適應(yīng)性強(qiáng),仍然是分析工作中最常使用的進(jìn)樣方式之一。
2020/02/28 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
金相分析是金屬材料研究和質(zhì)量檢驗(yàn)的重要組成部分,在材料研發(fā)、鋼鐵生產(chǎn)和金屬加工等行業(yè),材料的性能測(cè)試離不開金相分析。隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展,金相檢驗(yàn)技術(shù)也獲得前所未有的進(jìn)步。為使材料能在金相顯微鏡下呈現(xiàn)出真實(shí)的形貌特征,在對(duì)其進(jìn)行金相檢驗(yàn)時(shí)需嚴(yán)格控制金相試樣的制備流程。
2021/01/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
樣品進(jìn)樣后,色譜不出峰與進(jìn)樣系統(tǒng)、檢測(cè)器、記錄儀有關(guān)。
2023/05/19 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
頂空進(jìn)樣裝置是一種氣相色譜分析的樣品前處理裝置,是氣相色譜痕量分析的優(yōu)選方法之一。
2023/07/27 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文介紹了氣相色譜進(jìn)樣口隔墊異常及排查思路。
2023/09/13 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
樣品中雜質(zhì)較多,分離不太好,一般情況下把進(jìn)樣口溫度提高會(huì)有效果。但是進(jìn)樣溫度太高會(huì)使樣品分解吧?不知道在哪個(gè)溫度范圍內(nèi)較好?
2024/03/20 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
吹掃-捕集進(jìn)樣器的原理和使用中的常見問題。
2024/10/10 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
熱解吸進(jìn)樣器的原理和常見問題。
2024/10/29 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享