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掃描電子顯微鏡（SEM）之樣品制備

2017/09/25 更新 分類：熱點事件 分享

盤點9種掃描電子顯微鏡的技術(shù)。

2021/03/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片

2017/06/14 更新 分類：實驗管理 分享

摘要： 本文介紹了掃描電子顯微鏡SEM的原理和特點，概述了其在紡織材料研究中的應(yīng)用進(jìn)展，并展望了其未來的發(fā)展及在紡織材料研究上的應(yīng)用前景。 關(guān)鍵詞：掃描電子顯微鏡；紡織

2015/11/23 更新 分類：其他 分享

如今，掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscopy，SEM）已成為材料科學(xué)中的一個重要工具，它可以使研究人員能夠探索包括聚合物在內(nèi)的各種材料的復(fù)雜結(jié)構(gòu)和表面特征。

2023/10/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

在做掃描電子顯微鏡（SEM）測試時，工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到，好多同學(xué)對SEM測試不太了解，針對此，對網(wǎng)上海量知識進(jìn)行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們。

2023/11/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子掃描顯微鏡在材料檢測領(lǐng)域的應(yīng)用

2018/12/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。

2019/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本篇主要對冷凍電鏡與其他電鏡，如透射電鏡和掃描電鏡之間的比較。

2024/09/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器，主要用于：原材料的篩選（顆粒尺寸范圍，顆粒尺寸統(tǒng)計，快速篩樣）和組裝過程分析

2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享