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  • 掃描電鏡中實現(xiàn)納米尺度直接操縱位錯

    位錯對材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置，對雙層石墨烯中的位錯成像，并同時在納米尺度原位操縱位錯，可以直接揭示線張力、位錯相互作用、節(jié)點形成等位錯的基本特性。

    2021/02/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電子顯微鏡在涂料中的應(yīng)用及相關(guān)標(biāo)準簡介

    作為材料科學(xué)最強大的研究工具之一，掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形態(tài)和結(jié)構(gòu)，它的應(yīng)用范圍非常廣泛。

    2025/07/27 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準 分享

  • 掃描電鏡SEM對新型陶瓷材料分析應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡拍出的圖像真實、清晰，并富有立體感，在新型陶瓷材料的三維顯微組織形態(tài)的觀察研究方面獲得了廣泛地應(yīng)用。

    2019/02/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡基本原理及應(yīng)用技巧

    本文將詳細介紹掃描電子顯微鏡的工作原理、結(jié)構(gòu)組成、技術(shù)優(yōu)勢及其在科研和工業(yè)中的應(yīng)用。

    2024/09/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電子顯微鏡用X射線能譜儀在定量分析中的應(yīng)用

    采用掃描電子顯微鏡（SEM）與X射線能譜儀（EDS）聯(lián)合應(yīng)用的方法對材料進行微區(qū)化學(xué)成分分析是一種重要的分析手段。

    2024/11/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • PP復(fù)合材料彎折發(fā)白成因分析及改善

    本文通過掃描電子顯微鏡 ( SEM) 和透射電子顯微鏡(TEM) 相結(jié)合的方法探討了應(yīng)力發(fā)白產(chǎn)生的原因，并通過加入不同種類的增韌劑、相容劑，以及提高色粉的含量以改善應(yīng)力發(fā)白的情況。

    2023/04/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 簡單介紹聚焦離子束掃描電子顯微鏡FIB-SEM的工作原理

    本文介紹了聚焦離子束掃描電子顯微鏡FIB-SEM的工作原理。

    2023/10/25 更新 分類：實驗管理 分享

  • 掃描電子顯微鏡在光伏原輔材料檢驗中的應(yīng)用

    筆者以鍍膜玻璃、硅片、焊帶、背板等光伏原輔材料為例，采用SEM對各種材料進行分析，以展示SEM在鍍膜玻璃膜層結(jié)構(gòu)觀察、膜厚測量、硅片表面形貌及間距分析、焊帶表面微觀分析、背板類型分辨、各層厚度測量等方面的重要應(yīng)用。

    2019/06/12 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準 分享

  • 使用掃描電子顯微鏡研究海水中的塑料微粒

    海洋污染已成為當(dāng)今世界日益嚴重的問題，而微塑料又是已知全球海洋中塑料碎片的主要形式，并且在大多數(shù)海水樣本中都可以找到。有研究指出海鮮食材一旦遭遇了塑料污染，人類攝入的塑料化學(xué)物質(zhì)機會相應(yīng)增多，從而面臨健康風(fēng)險。

    2020/09/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • ISO發(fā)布決定顆粒大小和形狀分布的納米技術(shù)新標(biāo)

    國際標(biāo)準化組織（ISO）最近發(fā)布了一項標(biāo)準，該標(biāo)準為納米技術(shù)領(lǐng)域提供了重要的指南，特別是在掃描電子顯微鏡（SEMs）的使用方面：ISO 19749:2021《納米技術(shù)——通過掃描電子顯微鏡測量顆粒大小和形狀分布》。

    2021/08/10 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準 分享