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材料檢測表征方法之掃描電鏡

2017/08/24 更新 分類：實驗管理 分享

本文介紹了掃描電鏡（SEM）的工作原理。

2023/07/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了掃描電鏡SEM測試常規(guī)樣品制備

2022/10/17 更新 分類：實驗管理 分享

兩種顯微鏡存在很大的區(qū)別

2016/11/13 更新 分類：實驗管理 分享

研究人員針對場發(fā)射掃描電鏡實際使用中出現(xiàn)的故障問題，詳細分析了故障產(chǎn)生的原因，并結(jié)合實際給出了該掃描電鏡的故障解決方案。

2024/05/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享

掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡以其特有的優(yōu)點，影響掃描電鏡（SEM）的幾大要素。

2021/04/02 更新 分類：法規(guī)標準 分享

本文總結(jié)了兩種比較常用的掃描電鏡粉末樣品制備方法。

2016/04/10 更新 分類：實驗管理 分享

掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片

2017/06/14 更新 分類：實驗管理 分享

本文簡要介紹掃描電鏡樣品制備時鍍膜的原因，以及現(xiàn)今一些鍍膜技術(shù)。

2016/11/14 更新 分類：其他 分享

本文介紹了場發(fā)射掃描電鏡的科學管理與規(guī)范操作。

2024/03/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享