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掃描電子顯微鏡拍出的圖像真實(shí)、清晰，并富有立體感，在新型陶瓷材料的三維顯微組織形態(tài)的觀察研究方面獲得了廣泛地應(yīng)用。

2019/02/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本次分享的案例中主要關(guān)注引線框架表面的氧化狀態(tài)。

2023/06/07 更新 分類：檢測(cè)案例 分享

聚焦離子束技術(shù)（Focused Ion beam，F(xiàn)IB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面，實(shí)現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。

2023/09/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享

SEM掃描電鏡知識(shí)點(diǎn)掃盲

2019/03/28 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

掃描電子顯微鏡（SEM）之樣品制備

2017/09/25 更新 分類：熱點(diǎn)事件 分享

掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。

2019/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

如果要分析材料微區(qū)成分元素種類與含量，往往有多種方法，打能譜就是我們最常用的手段。

2023/03/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享

原子序數(shù)越大，圖像越亮。二次電子受原子序數(shù)的影響較小。高分子中各組分之間的平均原子序數(shù)差別不大；所以只有—些特殊的高分子多相體系才能利用這種襯度成像。

2018/06/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享

在大多數(shù)情況下，通過單個(gè)圖像即可輕松獲得樣品形貌，實(shí)現(xiàn)測(cè)試樣品微觀結(jié)構(gòu)的可視化。本文簡(jiǎn)要介紹了SEM技術(shù)發(fā)展，并且以納米材料為例介紹了SEM在其測(cè)試中的應(yīng)用。

2020/09/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

透射電鏡(TEM)、掃描電鏡(SEM)測(cè)試常見的20個(gè)問題

2016/07/25 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享