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今天這篇文章集齊了有關(guān)能譜(EDS)的各種問題,希望能給大家?guī)韼椭?/p>
2020/05/07 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本次分享的案例中主要關(guān)注引線框架表面的氧化狀態(tài)。
2023/06/07 更新 分類:檢測案例 分享
聚焦離子束技術(shù)(Focused Ion beam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面,實(shí)現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。
2023/09/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將詳細(xì)介紹掃描電子顯微鏡的工作原理、結(jié)構(gòu)組成、技術(shù)優(yōu)勢及其在科研和工業(yè)中的應(yīng)用。
2024/09/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
研究人員對JSM 6360型掃描電鏡近幾年出現(xiàn)的幾類典型故障及排除方法進(jìn)行了詳細(xì)分析和描述,以供同行交流。
2024/10/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
SEM掃描電鏡知識(shí)點(diǎn)掃盲
2019/03/28 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
掃描電子顯微鏡(SEM)之樣品制備
2017/09/25 更新 分類:熱點(diǎn)事件 分享
原子序數(shù)越大,圖像越亮。二次電子受原子序數(shù)的影響較小。高分子中各組分之間的平均原子序數(shù)差別不大;所以只有—些特殊的高分子多相體系才能利用這種襯度成像。
2018/06/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。
2019/09/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
在大多數(shù)情況下,通過單個(gè)圖像即可輕松獲得樣品形貌,實(shí)現(xiàn)測試樣品微觀結(jié)構(gòu)的可視化。本文簡要介紹了SEM技術(shù)發(fā)展,并且以納米材料為例介紹了SEM在其測試中的應(yīng)用。
2020/09/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享