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本文將系統(tǒng)闡述故障激發(fā)試驗(yàn)的理念、方法與實(shí)施路徑,為新品可靠性保駕護(hù)航。
2025/09/21 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)采用激發(fā)應(yīng)力環(huán)境(其應(yīng)力水平可能遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過(guò)正常使用環(huán)境)進(jìn)行試驗(yàn),快速激發(fā)產(chǎn)品潛在缺陷,使其以故障形式表現(xiàn)出來(lái),通過(guò)故障原因分析、失效模式分析和改進(jìn)措施消除缺陷,提高產(chǎn)品可靠性,并大幅度提高試驗(yàn)效率、降低成本。
2016/07/22 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
本文通過(guò)提出一種電子產(chǎn)品綜合應(yīng)力沙塵試驗(yàn)評(píng)價(jià)方法,詳細(xì)說(shuō)明了試驗(yàn)的嚴(yán)酷度等級(jí)與選擇方法,同時(shí)還提供了可供參考的試驗(yàn)實(shí)施時(shí)的剖面設(shè)計(jì),并就在實(shí)施時(shí)的相關(guān)注意事項(xiàng)進(jìn)行了注明,以幫助實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品綜合應(yīng)力沙塵試驗(yàn)的正確開(kāi)展。最后,結(jié)合應(yīng)用驗(yàn)證案例分析,說(shuō)明了綜合應(yīng)力沙塵試驗(yàn)可能激發(fā)的故障,深入討論了其失效機(jī)理與表征方法,并對(duì)驗(yàn)證結(jié)果進(jìn)行了風(fēng)險(xiǎn)
2022/12/05 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)的目的是通過(guò)系統(tǒng)的施加逐漸增大的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力,來(lái)激發(fā)故障和暴露設(shè)計(jì)中的薄弱環(huán)節(jié),從而評(píng)價(jià)產(chǎn)品設(shè)計(jì)可靠性。
2018/06/06 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
故障激發(fā)樣品失效分析核心目標(biāo)是主動(dòng)暴露潛在缺陷,積累故障模式數(shù)據(jù),從而優(yōu)化真實(shí)失效分析的效率和準(zhǔn)確性。以下是系統(tǒng)性實(shí)施方法和關(guān)鍵要點(diǎn).
2025/04/03 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(RET)屬于激發(fā)試驗(yàn)的范疇,最早的激發(fā)試驗(yàn)是20世紀(jì)50年代的老化試驗(yàn)
2016/11/21 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
環(huán)境應(yīng)力篩選對(duì)有潛在缺陷的產(chǎn)品能誘發(fā)其故障,排除出早期故障。
2020/03/04 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文研究相控陣超聲檢測(cè)中激發(fā)晶片數(shù)量的影響,經(jīng)試驗(yàn)得出不同晶片數(shù)在不同聚焦深度、工件厚度下的檢測(cè)效果差異,給出工藝參考。
2025/12/25 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了可靠性鑒定試驗(yàn)要求、試驗(yàn)方案和故障分類。
2024/07/15 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
正溫度系數(shù)電阻器是否需要模擬短路故障試驗(yàn)。
2022/07/08 更新 分類:檢測(cè)案例 分享