您當(dāng)前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
關(guān)鍵元器件—安規(guī)CB認(rèn)證參考標(biāo)準(zhǔn)匯總?cè)缦拢?
2021/06/15 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文對(duì)常用電子元器件的檢測經(jīng)驗(yàn)和方法進(jìn)行詳細(xì)介紹。
2021/10/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件貯存期的定義和計(jì)算規(guī)則。
2021/12/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要紹了各類元器件失效機(jī)理。
2022/02/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了功率器件的失效分析及封裝工藝優(yōu)化研究。
2022/03/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對(duì)SBGA器件裝配一次合格率低的原因進(jìn)行了分析和優(yōu)化。
2022/03/07 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文總結(jié)了MOSFET器件選型的10步法則
2022/04/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
仿生可穿戴電子器件最新進(jìn)展
2022/05/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了電子器件可靠性與溫度的關(guān)系。
2022/07/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了器件可靠性與溫度的關(guān)系。
2023/03/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享