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本文介紹了DPA的定義，目的，意義和適用范圍等。

2021/05/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了電子元器件失效分析（FA），破壞性物理分析（DPA），其他人為因素造成的失效。

2021/05/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享

破壞性物理分析（Destructive Physical Analysis）簡(jiǎn)稱為DPA

2019/03/26 更新 分類：檢測(cè)案例 分享

本文主要介紹元器件破壞性物理分析（DPA）的定義、目的和意義以及DPA工作的方法和程序。

2020/10/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享

DPA分析（DestructivePhysical Analysis）即破壞性物理分析，它是在電子元器件成品批中隨機(jī)抽取適當(dāng)樣品，采用一系列非破壞和破壞性的物理試驗(yàn)與分析方法，以檢驗(yàn)元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料、工藝制造質(zhì)量是否滿足預(yù)定用途的規(guī)范要求。

2017/07/06 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

GJB4027《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用電子元器件破壞性物理分析(DPA)的通用方法。

2023/07/17 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

破壞性物理分析（Destructive Physical Analysis）簡(jiǎn)稱為DPA，是為了驗(yàn)證元器件的設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)、材料和制造質(zhì)量是否滿足預(yù)定用途或有關(guān)規(guī)范的要求，按元器件的生產(chǎn)批次進(jìn)行抽樣，對(duì)元器件樣品進(jìn)行非破壞性分析和破壞性分析的一系列檢驗(yàn)和分析的全過(guò)程。

2022/10/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

在試生產(chǎn)期間，經(jīng)過(guò)溫度循環(huán)之后，一些樣品發(fā)生了光電失效。失效樣品的破壞性物理分析（DPA）顯示，二極管芯片上的裂紋把芯片分成兩部分。

2020/02/10 更新 分類：檢測(cè)案例 分享

破壞性試驗(yàn)是雜質(zhì)檢測(cè)方法建立時(shí)驗(yàn)證專屬性?檢測(cè)靈敏度的重要試驗(yàn)內(nèi)容之一, 能提供藥品可能的降解途徑和降解產(chǎn)物的信息?由于破壞性試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)過(guò)程復(fù)雜, 在技術(shù)審評(píng)過(guò)程中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)該項(xiàng)實(shí)驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)條件設(shè)計(jì)不合理?實(shí)驗(yàn)參數(shù)確定依據(jù)不充分?實(shí)驗(yàn)結(jié)果評(píng)價(jià)分析不全面等問(wèn)題?現(xiàn)對(duì)如何有效?全面測(cè)定破壞性試驗(yàn)中產(chǎn)生的降解產(chǎn)物, 合理開展破壞性試驗(yàn)研究做一分析?

2022/01/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享

破壞性試驗(yàn)是雜質(zhì)檢測(cè)方法建立時(shí)驗(yàn)證專屬性、檢測(cè)靈敏度重要試驗(yàn)內(nèi)容之一。

2019/04/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享